光譜測(cè)金儀
XRF熒光光譜貴金屬分析儀
EDX-6000 貴金屬珠寶檢測(cè)儀
能量色散X熒光光譜儀>小光斑（1mm），精確定點(diǎn)測(cè)試
>垂直光路設(shè)計(jì)，有效降低非平面樣品對(duì)測(cè)試結(jié)果影響
>精準(zhǔn)，快速，無(wú)損
>一鍵測(cè)試，快速上手
>無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定，提高檢測(cè)效率
>拓展應(yīng)用---鍍層和電鍍液分析
>堅(jiān)固耐用，適應(yīng)復(fù)雜工作環(huán)境
并不是所有閃閃發(fā)光的都是黃金，如果您想確切知道其中包含的黃金量，可以依靠我們的X射線熒光（XRF）光譜儀：EDX6000，您可以快速檢查珠寶的真實(shí)性并分析貴金屬和其他雜質(zhì)金屬的含量–而且不同于火試金測(cè)量法，我們的設(shè)備對(duì)樣品是*無(wú)損地。
全新設(shè)計(jì)的EDX6000光譜儀，使用了垂直光路的設(shè)計(jì)，有效提高了非平面樣品（比如戒指）的定位和測(cè)試精度。同時(shí)，垂直光路使光管與樣品位置更近，能更高效激發(fā)樣品
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蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司 | 下載次數(shù) |
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