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          EDX-9000B PLUS-EDX9000B PLUS X熒光光譜礦產礦石分析儀
          • EDX-9000B PLUS-EDX9000B PLUS X熒光光譜礦產礦石分析儀
          舉報

          貨物所在地:江蘇蘇州市

          地: 英飛思科學儀器

          更新時間:2024-11-03 21:00:08

          瀏覽次數(shù):224

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          ( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,
          生產水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質量控制。
          具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物

          EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer

          能量色散X熒光光譜儀

          礦產礦石專用分析儀

          Simply the Best

          >*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

          >真空光路配備薄膜濾光片技術,提高輕元素檢出限

          >可同時分析40種元素

          >可分析固體,液體,粉末和泥漿

          >進口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能

          >無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結果)

          >無需化學試劑,無耗材,更環(huán)保,更高效

          產品特點

          1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

          2.可同時分析40種元素

          3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

          4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

          5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)

          6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作

          7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限


          >儀器參數(shù)

          儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

          超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

          半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×75mm

          儀器重量: 48Kg

          元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

          可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

          探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

          探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

          處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器

          譜總通道數(shù):4096

          X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

          光管窗口材料:鈹窗

          準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

          濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

          高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

          高壓參數(shù):最小5kv可控調節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

          樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭

          電壓:220ACV 50/60HZ

          環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C




















          儀器配置

          >標準配置

          >可選配置

          Ag初始化標樣

          磨樣機

          真空泵

          壓片機

          礦石專用樣品杯

          烘干箱

          USB數(shù)據線

          ESI-900XRF專用全自動熔樣機

          電源線

          電子秤

          測試薄膜

          礦石標準物質

          儀器出廠和標定報告

          交流凈化穩(wěn)壓電源

          保修卡

          150目篩子








          全新設計的XTEST分析軟件

          軟件內核包括基本參數(shù)法FP),經驗系數(shù)法(EC,可輕松分析各類樣品。

          *光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量

          *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質效應,增強和吸收。

          *譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖

          *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數(shù)。

          *可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。

          *基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。

          鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告

          樣品

          氧化鎂
          MgO

          三氧化二鋁
          Al2O3  

          二氧化硅
          SiO2

          氧化鉀
          K2O

          氧化鈣
          CaO

          二氧化鈦
          TiO2

          氧化錳
          MnO

          三氧化二鐵
          Fe2O3

          Sample-1

          0.438

          84.577

          8.754

          0.196

          0.502

          3.753

          0.049

          1.966

          Sample-2

          0.442

          84.853

          8.88

          0.197

          0.522

          3.799

          0.052

          1.962

          Sample-3

          0.424

          84.508

          8.81

          0.197

          0.509

          3.852

          0.051

          1.983

          Sample-4

          0.427

          84.537

          8.636

          0.196

          0.513

          3.777

          0.051

          1.963

          Sample-5

          0.424

          84.501

          8.709

          0.197

          0.503

          3.791

          0.05

          1.973

          Sample-6

          0.415

          84.496

          8.737

          0.2

          0.513

          3.861

          0.051

          2.013

          Sample-7

          0.45

          84.818

          8.917

          0.197

          0.511

          3.854

          0.051

          1.966

          Sample-8

          0.423

          84.577

          8.689

          0.201

          0.501

          3.838

          0.05

          1.971

          Sample-9

          0.447

          84.381

          8.74

          0.199

          0.495

          3.853

          0.05

          1.971

          Sample-10

          0.453

          84.753

          8.893

          0.201

          0.517

          3.793

          0.052

          1.981

          Average         平均值

          0.434

          84.6

          8.776

          0.198

          0.509

          3.817

          0.051

          1.975

          Standard Deviation
          標準偏差

          0.013

          0.155

          0.094

          0.002

          0.008

          0.039

          0.001

          0.015

          RSD
          相對標準偏差

          3.10%

          0.18%

          1.08%

          0.97%

          1.63%

          1.02%

          1.91%

          0.76%



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