產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,電子 |
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可測電阻率: | 0.0001~19999Ω?cm |
(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴(kuò)散層、外延、離子注入、化學(xué)氣相、或其他淀積工藝在硅襯底上形成的薄膜方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份(簡稱:主機(jī))、測試架及四探針頭組成
參考價 | 面議 |
更新時間:2022-01-29 11:03:57瀏覽次數(shù):314
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XNC-KDB-3型雙組合四探針電阻率測試儀
(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴(kuò)散層、外延、離子注入、化學(xué)氣相、或其他淀積工藝在硅襯底上形成的薄膜方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份(簡稱:主機(jī))、測試架及四探針頭組成。
雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中,在測試樣品的每個測量位置上,以兩種不同的方式(配置)將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置"或“配置切換"測量。單組合四探針相比,用較小間距的探針頭就可以進(jìn)行高精度的測量,從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。
本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表,在測量電阻率的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全程的電流變化,免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換,更及時掌控測量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān),在測量某些薄層材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生,更好地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品:“小游移四探針頭",探針游移率在0.1~0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)可加配KDY測量系統(tǒng),測量硅片時可自動進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正,并計算出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度,給測量帶來很大方便。
XNC-KDB-3型雙組合四探針電阻率測試儀主機(jī)技術(shù)能數(shù)
(1)測量范圍:
可測電阻率:0.0001~19999Ω•cm
可測方塊電阻:0.001~199999Ω/□
(2)恒流源:
輸出電流:DC 0.001~100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程:0.001~0.01mA 0.01~0.10mA 0.10~1.0mA 1.0~10mA 10~100mA
恒流精度:各檔均低于±0.05%
(3)直流數(shù)字電壓表:
測量范圍:0~199.99mV
靈敏度:10μV
基本誤差:±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)
輸入阻抗:≥1000MΩ
(4)測量精度:電器精度:1-1000歐姆≤0.3%
整機(jī)測量精度:1-1000歐姆•厘米≤3%
(5)供電電源:
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率:12W
(6)使用環(huán)境:溫度:23±2℃ 相對濕度:≤65%
無較強(qiáng)的電場干擾,電源隔離濾波,無強(qiáng)光直接照射
(7)重量、體積:
主機(jī)重量:6.5kg
體積:420(含前把手)×360×150(含底腳)(單位:mm 長度×寬度×高度)
該儀器可選配KDY四探針測試系統(tǒng)連接計算機(jī)軟件進(jìn)行測量,測試結(jié)果更加精確、簡便,測量數(shù)據(jù)自動保存,可進(jìn)行導(dǎo)出excel等操作,便于保存數(shù)據(jù)。