產(chǎn)地類別 | 進口 | 分散方式 | 干濕法分散 |
---|---|---|---|
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 靜態(tài)光散射 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
日本島津激光粒度分析儀故障維修技術(shù)值得信賴,激光粒度分析儀是一種使用廣泛的粒徑測量設(shè)備。其檢測原理是基于光的散射現(xiàn)象:當(dāng)光線遇到粒子在旅行的過程中,它的一部分將偏離原來的傳播方向。這種現(xiàn)象稱為光散射或衍射。粒徑越小,散射角越大;粒徑越大,散射角越小。激光粒度分析儀測量顆粒大小根據(jù)光的散射現(xiàn)象。很多行業(yè)都離不開它,即使在制造上有多好,也無法避免使用后的常規(guī)失敗時間。
選擇winner311xp噴霧激光粒度分析儀時應(yīng)關(guān)注起功率,功率過小會造成散射光能量低
日本島津激光粒度分析儀故障故障診斷技巧分享:
通過觀察“0環(huán)"的穩(wěn)定性來判斷光能的穩(wěn)定性?!?環(huán)"在一分鐘內(nèi)的波動范圍不應(yīng)超過其5%。該指標(biāo)將在很大程度上影響試驗的重復(fù)性。如果不符合要求,有必要聯(lián)系儀表制造商征求意見。
光學(xué)裝置是否清潔主要通過觀察15-25環(huán)的高度來判斷。這些環(huán)的高度一般不應(yīng)超過5,會影響測試結(jié)果的真實性。如果儀器的光學(xué)裝置(鏡片)不干凈,會導(dǎo)致15-25圈的高度異常。當(dāng)其高度超過10時,會明顯影響測試結(jié)果的真實性。
如果進樣器是穩(wěn)定的,一種是聽水泵的聲音是否穩(wěn)定,另一種是觀察測試窗口的鏡頭中是否有氣泡。這兩個普通的噴射器基本沒問題。
吸潮樣品應(yīng)將樣品盡快封裝入袋,以免吸潮 粒徑太大,包括外觀大顆粒粉末的重力超過空氣動力和靜電力,粉末涂料在飛行過程中,由于重力作用未達到工件表面就已經(jīng)落下,反而會使上粉率降低,同時,若粉末中10μm以下的超細粉含量太多,會使得粉末極易吸潮,結(jié)團
粒度儀清潔保養(yǎng)方法:
一般來說,在被測流體中沖洗激光粒度儀測量單元就足夠了。要去除頑固殘留物,可以在漂洗液中加入洗滌劑。滴幾滴表面活性劑或表面活性劑家用清潔劑(洗滌液,如液體肥皂),可以更*地清潔測量細胞。
保養(yǎng)時的注意事項:
1、在開始工作之前要斷開電源。
2、切忌不要讓任何樣品進入到粒度儀是的主機內(nèi)部
3、嚴(yán)格按照警告標(biāo)志指示來操作
4、不要擅自拆開機器來清潔內(nèi)部,請聯(lián)系專業(yè)的維修公司。
當(dāng)用硬自來水進行測量時,你可能會觀察到一些水垢殘留在濕分散裝置的軟管和蓄水池的內(nèi)壁上。此外,有機物的積累也可能在管的內(nèi)表面形成一層涂層,在激光粒度儀測量其他顆粒時可能對測量結(jié)果產(chǎn)生不利影響。因此,用戶需要定期檢查和維修計量罐內(nèi)部及管道。
Si3N4的材料Kic從4.8一5.8提高至7左右,Al2O3材料KiC 可以實現(xiàn)非接觸測試,對被測樣品的干擾很小,從而減小了測試的系統(tǒng)誤差,克服了傳統(tǒng)方法所帶來的弊端3.激光散射法中,光電轉(zhuǎn)換元件的響應(yīng)時間很短,可以實現(xiàn)快速測試,4.激光散射法與計算機配合使用,易于實現(xiàn)測試過程的自動化
日本島津激光粒度分析儀故障維修技術(shù)值得信賴
(1996),213.[5]任中京等,哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報,9-3(1987) 并用anr,anj和bnr,bnj分別表示的實部與虛部,如此可推得在上述四個公式中采用比值的形式是非常重要的,這樣可避免遞推過程中當(dāng)ai與bi較大時乘法運算可能產(chǎn)生的溢出,能譜是隨時間高速變化,動態(tài)光散射原理的粒度儀僅適用于納米級顆粒的測試
經(jīng)處理,也可成為非浮型鋁粉,鋁粉可以用來鑒別指紋,還可以做*,鋁粉由于用途廣,需求量大,品種多,所以是金屬顏料中的一大類,顏料用的鋁粉粒子是鱗片狀的,也正是由于這種鱗片狀的粒子狀態(tài),鋁粉才具有金屬色澤和屏蔽功能再輔以其它方法如PCS等,一般幾微米以上用激光衍射法測量,而幾微米以下的顆粒用其它方法測量,理論上講粒徑下限取決于方法的下限,這種方法的優(yōu)點是成本低,總的測量范圍較寬,但因為不同的方法所要求的zui佳的測量條件如樣品濃度等都不一樣,通常難以兼顧,另外由于不同方法間存在的系統(tǒng)誤差,在兩種方法的數(shù)據(jù)擬合區(qū)域往往較難得到理想的結(jié)果,除非測量前已經(jīng)知道樣品粒徑只落在衍射法范圍內(nèi)或方法的范圍內(nèi)