精測(cè)電子粒徑分析儀不能開機(jī)維修，用戶可以隨時(shí)檢驗(yàn)儀器的準(zhǔn)確性第特色的微量樣品池進(jìn)樣系統(tǒng)：其中微量樣品池系統(tǒng)包括20ml微量樣品池，垂直電動(dòng)攪拌器

下面內(nèi)容應(yīng)涵蓋激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的大部分問題(不包括儀器的功能故障問題)，希望對(duì)所有激光粒度儀用戶有所幫助。

下面我們將介紹一些會(huì)導(dǎo)致激光粒度儀的常見問題：
1、鏡頭和測(cè)試窗口被污染
2、激光光路偏移
3、進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動(dòng)
4、光電探測(cè)器及其放大電路參數(shù)偏移
5、測(cè)量參數(shù)及測(cè)量條件變動(dòng)

R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布，按目分級(jí)統(tǒng)計(jì)模式等，M，Kerker系統(tǒng)論述了光及電磁波散射的一般規(guī)律，為散射理論的進(jìn)一步發(fā)展做出了貢獻(xiàn)，1983年，C，F(xiàn)，Bohren，O，R，Huffman綜合前人的成果此外，當(dāng)填料的微觀形貌基本一致時(shí)，粒度分布狄窄的填料有利于在紙張抄造過程中的留著

粒度儀常見故障預(yù)防措施：
透鏡光學(xué)儀器的污染是一種常見的故障。粉檢測(cè)設(shè)備,激光粒度分析儀經(jīng)常面臨著塵土飛揚(yáng)的環(huán)境中,和test窗口透鏡是一個(gè)光學(xué)器件,可以直接聯(lián)系粉末樣品。聚焦透鏡或準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)透鏡受到環(huán)境中的浮塵或霉變的污染，會(huì)在純測(cè)量光束中產(chǎn)生雜散光。這些雜散光將混合到樣品的散射光干擾測(cè)試;測(cè)量窗口鏡片上的污染物會(huì)直接產(chǎn)生強(qiáng)烈的散射光。

濟(jì)南微納公司生產(chǎn)的Winner2000ZD濕法激光粒度儀采用散射光探測(cè)系統(tǒng) 粒度分布范圍較寬(由其粒度分布曲線可看出)，測(cè)試結(jié)果誤差較大，但以上結(jié)果并不能說明粉體試樣濃度越小越好，因?yàn)闈舛刃〉揭欢ǔ潭葧r(shí)，樣品中的顆粒已經(jīng)大大減少，太少的顆粒數(shù)會(huì)產(chǎn)生較大的取樣及測(cè)量隨機(jī)誤差，這時(shí)的樣品已無代表性

激光水平儀故障排除解決方案—激光水平儀可以看作是復(fù)雜的工具，特別是如果您不熟悉使用該設(shè)備或其他型號(hào)的經(jīng)驗(yàn)。在該單位停止工作中的故障時(shí)，它確實(shí)會(huì)引起不必要的焦慮和不必要的延遲。在將其發(fā)送給進(jìn)行充分修理之前，您可以執(zhí)行一些陷阱來解釋問題。

Fraunhofer衍射適用的條件為:儀器測(cè)量下限大于3μm，或被測(cè)顆粒是吸收型且粒徑大于1μm的，當(dāng)儀器測(cè)量下限小于1μm，或者用測(cè)量下限小于3μm的儀器去測(cè)量遠(yuǎn)大于1μm的顆粒時(shí)，都應(yīng)該采用Mie理論2.探測(cè)器自動(dòng)對(duì)中，針孔防震設(shè)計(jì)

精測(cè)電子粒徑分析儀不能開機(jī)維修

由于實(shí)驗(yàn)所測(cè)前向散射與后向散射夾角對(duì)應(yīng)關(guān)系是一致的，所以在此僅計(jì)算玻璃前向90°的透射率 如噴霧及干法粒度儀對(duì)數(shù)據(jù)采集速度的要求就比較高了，現(xiàn)在市場(chǎng)的激光粒度分析儀一般為1000次/秒，日常維護(hù)簡(jiǎn)便性及使用成本這一點(diǎn)應(yīng)作為判斷激光粒度儀性價(jià)比的一個(gè)關(guān)鍵因素，如窗口清洗的簡(jiǎn)便性，售后服務(wù)的及時(shí)性 表面活性劑，同時(shí)又要成本低非離子表面活性劑，特殊類型表面活性劑等，粉體在水中通常是帶電的，加入具有同種電荷的表面活性劑，由于電荷之間的相互排斥而阻礙了表面吸附，從而可達(dá)到分散粉體的目的，不同的表面活性劑對(duì)不同種類的粉體分散效果不同nisbhahdugd