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激光粒度儀如何獲得顆粒的散射光能譜分布
1、為什麼散射/衍射激光粒度儀必須采用激光作光源
激光粒度儀是通過(guò)檢測(cè)顆粒的散射譜來(lái)分析顆粒大小與分布的,因此能否獲得清晰的散射譜至關(guān)重要,激光是一種準(zhǔn)直性,單色性良好的光源,只有采用激光才能在散射/衍射粒度儀器中得到清晰的散射譜分布。用多種波長(zhǎng)混合的光源不可能獲得清晰的散射譜,只能獲得多種散射譜的疊加,因此不能用于粒度儀。
在多種激光器中半導(dǎo)體激光與氣體激光相比,氣體光源波長(zhǎng)短,線寬窄,單色性好,穩(wěn)定性遠(yuǎn)優(yōu)于半導(dǎo)體光源。因此微納與大多數(shù)專業(yè)公司選用了氣體激光器作為測(cè)量光源。
2、激光粒度儀與其他方法相比有什么優(yōu)勢(shì)?
激光粒度儀的光路實(shí)際是一個(gè)二維傅立葉變換器,因此具有傅立葉變換的許多特點(diǎn):1、所有顆粒的散射信息是以光速并行傳輸?shù)竭_(dá)光電探測(cè)器的,因此速度快;2、探測(cè)器可以做的非常窄大約幾個(gè)微米,因此分辨率非常高;3、測(cè)試過(guò)程顆粒散射不會(huì)受到人為因素的干擾,因此測(cè)試重復(fù)性超群;4、根據(jù)傅立葉變換的平移不變性,顆粒在樣品池中的運(yùn)動(dòng)速度不會(huì)影響頻譜分布,因此適用于動(dòng)態(tài)顆粒的測(cè)試,這是其他粒度測(cè)試方法所*的,這成為了顆粒在線測(cè)試?yán)碚撘罁?jù)。
3、激光粒度儀測(cè)量下限是多少?
激光粒度儀測(cè)量粒度的原理是MIE散射理論。 MIE散射理論用數(shù)學(xué)語(yǔ)言描述了折射率為n、吸收率為m的特定物質(zhì)的,粒徑為d球型顆粒,在波長(zhǎng)為λ單色光照射下,散射光強(qiáng)度隨散射角θ變化的空間分布函數(shù),此函數(shù)也稱為散射譜。根據(jù)MIE散射理論可以看出顆粒越大,前向散射越強(qiáng)而后向散射越弱;隨著顆粒粒徑的減小,前向散射迅速減弱而后向散射逐漸增強(qiáng)。激光粒度儀正是通過(guò)設(shè)置在不同散射角度的光電探測(cè)器陣列,測(cè)試顆粒的散射譜,由此確定顆粒粒徑的大小。這種散射譜對(duì)于特定顆粒在空間具有穩(wěn)定分布的特征,因此稱此種原理的儀器為靜態(tài)激光粒度儀。
但是當(dāng)顆粒粒徑小到一定的程度dm,與另一種更小顆粒dm-δ相比,如果二種顆粒的散射譜非常相似,以至不能被光電探測(cè)器陣列所分辨,就認(rèn)為達(dá)到了激光粒度儀的測(cè)量極限,此粒徑dm就是激光粒度儀的測(cè)量下限。
此極限還與激光波長(zhǎng)有關(guān),研究表明紅光635nm波長(zhǎng)的激光測(cè)量極限為50納米,而藍(lán)光405nm波長(zhǎng)的激光測(cè)量理論極限為20nm。
理論上,靜態(tài)激光粒度儀欲分辨納米級(jí)的顆粒至少需要二個(gè)條件:1、具有測(cè)量后向散射的光電探測(cè)器陣列,2、需要用波長(zhǎng)更短的激光器。在可見(jiàn)光的范圍內(nèi),20nm是靜態(tài)激光粒度儀的理論測(cè)量下限。