菲希爾納米壓痕儀FISCHERSCOPE HM2000特點(diǎn)
菲希爾X射線測厚儀根據(jù)DIN EN ISO 14577-1 Annex A和ASTM E 2546確定材料參數(shù)
菲希爾X射線測厚儀確定粘彈性材料特性的動(dòng)態(tài)模式(動(dòng)態(tài)力學(xué)分析)
快速測量:30秒內(nèi)確定零點(diǎn)
即使對于暗表面，也僅需少許的樣品預(yù)處理準(zhǔn)備
菲希爾X射線測厚儀適用于測量塊體材料和厚度大于1μm的涂層, 測量載荷范圍0.1 – 2000 mN
熱穩(wěn)定性和抗振動(dòng):可以穩(wěn)定測量數(shù)小時(shí)而不受無外界因素影響
菲希爾X射線測厚儀可編程的全自動(dòng)化樣品臺(tái)，自動(dòng)測量多個(gè)測量點(diǎn)
菲希爾X射線測厚儀配有4倍至40倍物鏡的顯微鏡，以精確定位測量點(diǎn)
模塊化的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)用戶特定配置或設(shè)備的未來升級
壓頭: 維氏壓頭、柏氏壓頭、硬質(zhì)金屬球型壓頭、努氏壓頭或其它定制壓頭
強(qiáng)大的WIN-HCU軟件，便于直觀地操作和測量評估
