菲希爾測(cè)厚儀X-RAY XUV 773

菲希爾測(cè)厚儀X-RAY XUV 773

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率，使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測(cè)量下限。XUV非常適合測(cè)量很薄的鍍層和痕量分析。菲希爾x射線測(cè)厚儀

X-RAY XUV 773采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合，能夠保證每一次的測(cè)量都在*佳的條件下完成。在測(cè)量的同時(shí)，可以直觀地查看測(cè)量點(diǎn)的影像。儀器測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺(tái)，既適合測(cè)量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測(cè)量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡(jiǎn)單。X-RAY XUV 773儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置，進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測(cè)量箱所帶來的擴(kuò)展的測(cè)量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā)，也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。菲希爾x射線測(cè)厚儀

菲希爾測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY

X-RAY XUV 773一個(gè)軟件實(shí)現(xiàn)鍍層厚度測(cè)量和材料分析兩個(gè)功能

擴(kuò)展統(tǒng)計(jì)功能。例如，測(cè)量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示

圖像識(shí)別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測(cè)量位置

基于基本參數(shù)分析的無標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量：在手邊樣本組成未知的情況下實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量結(jié)果

X-RAY XUV 773距離控制測(cè)量（DCM）：無需移動(dòng)軸即可保持與不規(guī)則形狀樣品的正確測(cè)量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動(dòng)軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風(fēng)險(xiǎn)

菲希爾x射線測(cè)厚儀測(cè)量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測(cè)量質(zhì)量。錯(cuò)誤地選擇了錯(cuò)誤的測(cè)量任務(wù)或測(cè)量了錯(cuò)誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會(huì)提醒您

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國(guó),英國(guó),德國(guó)和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測(cè)量工具測(cè)量工具和其他類型的測(cè)試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測(cè)量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。

菲希爾Feritscope FMP30鐵素體含量測(cè)試儀根據(jù)磁感應(yīng)方法測(cè)量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。儀器能識(shí)別所有的磁性部件，也就是說，除了delta鐵素體，還能識(shí)別其轉(zhuǎn)化形式馬氏體。儀器符合Basler標(biāo)準(zhǔn)和DIN 32514-1標(biāo)準(zhǔn)，適合于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，可以測(cè)量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內(nèi)以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產(chǎn)品內(nèi)的鐵素體含量。

菲希爾Feritscope FMP30鐵素體含量測(cè)試儀用于化工設(shè)備和石油加工廠通常要承受高溫、高壓，同時(shí)要耐腐蝕。外部環(huán)境要求所用鋼 材即使在高溫下也要有足夠的耐腐蝕和耐酸性能。如果鐵素體含量太低，焊縫受熱后容易產(chǎn)生裂紋；如果鐵素體含量太高，焊縫將喪失韌性和延展性。對(duì)于雙相鋼，如果鐵素體含量太低，焊縫受到張力或發(fā)生振動(dòng)時(shí)容易破裂。