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當(dāng)前位置:無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司>>泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀>>泰勒霍普森粗糙度儀>> SURTRONIC S116粗糙度儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無(wú)錫市
更新時(shí)間:2024-06-19 20:37:27瀏覽次數(shù):828次
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泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測(cè)試參數(shù):
三個(gè)取樣長(zhǎng)度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個(gè)濾波器:2CR、Gaussian
評(píng)定長(zhǎng)度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程:17.5mm
泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)試速度:
泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)試速度:1mm/sec(0.04 in/sec)
泰勒霍普森粗糙度儀回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)
泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)試參數(shù):
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù): Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量11個(gè)參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量14個(gè)參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 :R3z (Daimler Benz)
測(cè)試單位:um/uin
SURTRONIC S116粗糙度儀
SURTRONIC S116比SURTRONIC25有如下改進(jìn):
1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池;
2、顯示屏為觸摸屏;
3、可以顯示測(cè)試圖形;
4、SURTRONIC25只能測(cè)試10個(gè)參數(shù),S116在不同標(biāo)準(zhǔn)下可以測(cè)量12、11、14個(gè)參數(shù)(見(jiàn)技術(shù)參數(shù));
5、原來(lái)SURTRONIC25使用電位器校準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果,現(xiàn)在改為自動(dòng)軟件校準(zhǔn)。方便使用;
6、顯示屏顯示的結(jié)果(數(shù)據(jù)和圖形)可以旋轉(zhuǎn),可以方便的從四個(gè)方向觀察測(cè)試結(jié)果;
7、儀器底部為V形,測(cè)試軸類部件方便可靠;
8、測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)增加了存儲(chǔ)圖形功能;
9、可以使用U盤(pán)直接存儲(chǔ),一個(gè)4G容量U盤(pán)可存儲(chǔ)3.9萬(wàn)個(gè)圖形,數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)70批次,每批次為10萬(wàn)個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)。
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