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當(dāng)前位置:深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司>>電子元器件>>五金/焊接/輔料/返修工具>> 德國(guó)Sentech SE 400adv PV 激光橢偏儀,是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:橢偏儀激光;橢偏儀sentech;橢偏儀機(jī)型;SENTECH激光橢偏儀;橢偏儀國(guó)際;激光橢偏儀0;S...
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更新時(shí)間:2024-11-04 17:02:07瀏覽次數(shù):57次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)日本島津 紫外可見近紅外分光光度計(jì) UV-3600Plus 產(chǎn)品關(guān)鍵
安捷倫 Cary 5000 紫外-可見-近紅外分光光度計(jì) 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:
日立Hitachi 雙光束紫外可見分光光度計(jì)UH5300 產(chǎn)品關(guān)鍵詞
美國(guó)Sciex 毛細(xì)管電泳系統(tǒng) P/ACE MDQ plus 檢測(cè)儀器
瑞士 sawatec HP-150 熱版機(jī)/電爐 精密儀器設(shè)備 產(chǎn)品關(guān)
德國(guó)Sentech SE 400adv PV 激光橢偏儀
粗糙表面分析:
高靈敏度和超低噪聲檢測(cè)允許在非理想,雜散光造成表面的測(cè)量,典型的紋理單晶和多晶硅太陽能電池。
防反射涂層的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):
目前國(guó)內(nèi)外已有330多臺(tái)SE 400adv PV激光橢偏儀用于表征防反射膜。
高度準(zhǔn)確:
SE 400adv PV激光橢偏儀具有穩(wěn)定的激光光源、穩(wěn)定的溫度補(bǔ)償裝置、超低噪聲探測(cè)器,因而具有的穩(wěn)定性和精度。
多角度激光橢偏儀SE 400adv PV在632.8nm的氦氖激光波長(zhǎng)下,在紋理化的單晶和多晶硅片上提供防反射單膜的膜厚和折射率??筛鼡Q的晶片載片器允許對(duì)多晶晶片和堿性織構(gòu)的單晶晶片進(jìn)行測(cè)量。
激光橢偏儀SE 400adv PV特別適用于分析SiNx、ITO、TiO2薄膜以及SiO2和Al2O3薄膜鈍化層。雙層堆疊膜可以在光滑的基板上進(jìn)行分析。
SE 400adv PV是一種緊湊的儀器,快速上升和運(yùn)行。SENTECH簡(jiǎn)單易用,基于配方的軟件包括符合研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境質(zhì)量控制要求的預(yù)定義應(yīng)用程序的綜合包。
一種用于光伏應(yīng)用的便攜式激光橢偏儀可用于在整個(gè)生產(chǎn)線運(yùn)行之前,建立和測(cè)試大型PECVD設(shè)備。
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