EPK MINITEST745測厚儀

●MiniTest 745 EPK測厚儀為ERICHSEN新一代的膜厚計，其測頭為新的可透過網(wǎng)際網(wǎng)絡更新的內置微數(shù)據(jù)處理器的SIDSP測頭
●MiniTest 745 EPK測厚儀全系列為可更換式測頭，使用者僅需更換測頭就可以有不同的量程及功能（磁性或非磁性），甚至可以更換為內置式使用或雙用（磁性以及非磁性）測量
●LCD屏幕顯示的信息可180度旋轉，
●內置數(shù)據(jù)記憶，可記憶100000筆數(shù)據(jù)，多分100個批組，
●機器可自行進行統(tǒng)計分析
●符合的規(guī)范有：DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840；ASTM B 244，B 499，D 7091，E 376；AS 3884.3；SS 1841；SSPC- PA2