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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地無(wú)錫市
更新時(shí)間:2024-07-17 17:36:19瀏覽次數(shù):226次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾代理
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
菲希爾X-RAY XUV
菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)特性:
● 檢出限低、重復(fù)精度高,以及測(cè)量適用性廣,因此特別適用于研究和開(kāi)發(fā)使用
● 配備真空測(cè)量室和高性能硅漂移探測(cè)器,能夠?qū)崿F(xiàn)精確測(cè)量,尤其是對(duì)輕元素的測(cè)試
● 通過(guò)可編程 X、Y 和 Z 軸進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試
● 準(zhǔn)直器和濾波器可切換,因此可適用于各種材料和測(cè)試條件
菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)應(yīng)用:
涂層厚度測(cè)量
● 原子序數(shù)從Na(11)開(kāi)始的輕元素鍍層,可測(cè)量厚度低至納米級(jí)
● 鋁鍍層和硅鍍層
菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)材料分析
● 測(cè)定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地
● 常規(guī)材料分析和取證
● 高分辨率痕量分析
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