泰勒霍普森、粗糙度儀DUO

泰勒霍普森便攜式儀器SURTRONIC DUO粗糙度測(cè)量儀

型號(hào)：SURTRONIC DUO

探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)

表面粗糙度測(cè)量范圍：199μm，40μm

掃描路徑：5mm

表面粗糙度分辨率：0.01μm

閾值波長：0.8 mm

數(shù)據(jù)傳輸類型：USB

英國泰勒霍普森粗糙度測(cè)量裝置SURTRONIC DUO，具有內(nèi)部進(jìn)料單元的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置，小巧便攜，通用功能，用戶友好的界面，適合地板等表面粗糙度測(cè)量。

應(yīng)用：

用戶友好的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置，用于參數(shù)Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量。