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菲希爾測厚儀XDL240
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240無錫駿展儀器確定細(xì)小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器滿足實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)要求。
儀器智能控制軟件稱為 WinFTM. 。它不僅使操作簡單化,而且為類似軟件在多功能性及高**性方面設(shè)立了標(biāo)準(zhǔn)。
菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀
XUL系列型號的X射線熒光光譜儀,設(shè)計緊湊,用于測量鍍層厚度和分析材料。X射線源和探測器位于測量室的下方,樣品可以直接放置在測量臺上輕松定位。
盡管結(jié)構(gòu)緊湊,但是XUL型儀器配置了大體積的測量腔和手動控制的XY工作臺,是測量電鍍件(如:螺絲,螺釘或螺帽,或裝飾鍍層)的理想選擇。另外,電鍍液的金屬含量也可以快速而方便地分析。
菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀是專為測量細(xì)小工件而設(shè)計的。它配備了微距焦X射線管、可自動切換的準(zhǔn)直器和多種基本濾波器,特別適合于測量微小樣品,如:插針、接插件和線材以及對印制電路板的手動測量。
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