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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-07-15 11:36:33瀏覽次數(shù):135次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)HBM扭矩傳感器K-KAB-T-0153-01-010-S015
OAC005 508201電磁鐵德國(guó)KENDRION
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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ATR OM2
定義:入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密-疏媒質(zhì)的界上全反射時(shí),光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場(chǎng)(見(jiàn)衰減波)量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元(SP)或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強(qiáng)因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。
利用光學(xué)中的迅衰場(chǎng)與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應(yīng)用:ATR在實(shí)際應(yīng)用中,作為紅外光譜法的重要實(shí)驗(yàn)方法之一,從一開(kāi)始便顯示出其特的優(yōu)勢(shì)和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過(guò)透過(guò)樣品的信號(hào),而是通過(guò)樣品表面的反射信號(hào)獲得樣品表層有機(jī)成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡(jiǎn)化了樣品的制作過(guò)程,而且極大地?cái)U(kuò)大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過(guò)法無(wú)法制樣,或者樣品制備過(guò)程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實(shí)驗(yàn)成為可能。因此,被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。
ATR | 21160249/NG3024 |
ATR | 21160969/RM2 |
ATR | 21161119/UE6 |
ATR | 21163319/WM83 |
ATR | 212721139/VM135 |
ATR | 21274369/KM11G |
ATR | 21276489/VM237 |
ATR | 21276509/WM265 |
ATR | 21278919/GG8005 |
ATR | ATR - VG 140 |
ATR | GG115;IN: 19...32VDC ; OUT: +-15VDC +-160mA |
ATR | IM31 |
ATR | KM11G |
ATR | NG3024 |
ATR | OM 2 |
ATR | OM2 |
ATR | OT1-24 |
ATR OM2
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