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貨物所在地:北京北京市
更新時間:2024-08-24 21:00:07
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介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀硅油介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀為160Hzi介電常數(shù)測試儀,該儀器采用多種先進技術(shù),包括雙雙掃描、雙測試要素輸入、雙數(shù)碼化協(xié)調(diào)等技術(shù)。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀主要技術(shù)參數(shù)如下:
1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz
2. 信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字;信號頻率覆蓋比11000:1;采樣精度12BIT(高精度A/D采樣);
3.Q值測量范圍:1~1000自動/手動量程;Q值分辨率0.1,4位有效數(shù)字;Q值測量工作誤差<5%;
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
5.電感測量范圍:1nH~140mH,分辨率0.1nH,自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能;
6.電容直接測量范圍:1pF~25nF,分辨率0.1pF,準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;
7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進馬達,電容自動搜索;
8. 材料測試厚度:0.1mm~10mm;
9. 合格指示預置功能范圍:5~1000;
10.LCD顯示參數(shù)F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13.(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:
數(shù)顯式微桿,平板電容器:
極片尺寸: 38mm
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm
測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1:
分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到160MHz。
LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進技術(shù):
雙掃描技術(shù)——測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入——測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量技術(shù)——對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示——數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源——確保信源的高保真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定