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          行業(yè)產(chǎn)品

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          [供應(yīng)]IMEXT FTA-徠卡顯微裂變徑跡分析系統(tǒng)
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          • IMEXT FTA-徠卡顯微裂變徑跡分析系統(tǒng)
          貨物所在地:
          北京北京市
          更新時間:
          2023-04-03 14:44:39
          有效期:
          2023年4月3日 -- 2024年4月3日
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          在線詢價 收藏產(chǎn)品

          (聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          產(chǎn)品簡介

          裂變(Fission)是一個不穩(wěn)定的重元素的原子核分裂為兩個質(zhì)量、大小相差不遠的碎片(輕核),同時放出大量能量的現(xiàn)象;徑跡(Tracks)是具有很高能量、帶大量電荷的重粒子,通過固體絕緣材料(例如白云母、磷灰石、鋯石等)時,在其所經(jīng)過的途程中留下輻射損傷的狹窄痕跡。

          詳細介紹

          IMEXT FTA

          Fission Track Analysis System

          產(chǎn)品介紹

          img1


          IMEXT FTA裂變徑跡分析系統(tǒng)

          Fission Track Analysis System

          1、                      裂變徑跡技術(shù)原理  Fission Track Principle

          礦物中所含微量鈾的自發(fā)裂變的衰變引起晶格的損傷產(chǎn)生徑跡,測定礦物的鈾含量和自發(fā)裂變徑跡密度、數(shù)量和長度、角度,可以確定礦物的年齡。此法用樣量少,可用樣品種類多,測年范圍可由數(shù)年到幾十億年,特別是在5萬~100MA年期間內(nèi),測年效果較其他方法為好,是第四紀(jì)地質(zhì)年代測定的重要方法之一。

          原理示意

          img2img3

          樣品示意

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          2、                      高整合的自動分析系統(tǒng)  Automatic Analysis System

          系統(tǒng)高度集成智能顯微鏡、攝像機、電動掃描臺等硬件設(shè)備;項目化管理、流程化操作;主要用于礦物裂變徑跡分析。

          系統(tǒng)所配軟件包,專為裂變徑跡應(yīng)用開發(fā),可完成裂變徑跡顯微鏡鏡下互為鏡像樣品顆粒定位和查找、圖片拍攝;可滿足裂變徑跡測量的各種需求

          設(shè)備圖:

          img5

          控制軟件主界面圖:

          img6

          測量分析流程:

          1)       新建樣品項目,開始裂變徑跡分析;或者打開已有樣品項目,繼續(xù)分析;

          2)       樣品全貌圖掃描;

          3)       樣品光薄片/云母片定位;

          4)       樣品觀察方式配置;樣品拍照模式配置;

          5)       目標(biāo)顆粒選擇;

          6)       目標(biāo)顆Grain/Mice自動掃描;

          7)       目標(biāo)顆粒裂變徑跡參數(shù)測量;

          8)       裂變徑跡數(shù)據(jù)統(tǒng)計;

          9)       專用裂變徑跡分析報告;

          3、                      樣品全貌圖掃描  Sample MAP

              系統(tǒng)支持低倍物鏡下快速掃描樣品薄片,生成樣品全貌圖;包含光薄Grain、云母Mice、中間參考片。作為后續(xù)操作粗略定位薄片的參考。

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          4、                      樣品定位&  Relocation & SWAP

              系統(tǒng)支持樣品粗定位精細定位兩種模式;確500X、1000X下能準(zhǔn)確觀察目標(biāo)顆粒。

          Relocation模塊滿足了對互為鏡像云母片上的裂變徑跡觀察。在利用光學(xué)顯微鏡對云母片損傷產(chǎn)生徑跡進行觀察時,需要對2片互為鏡像的光薄片/云母片上徑跡進行對照分析,需要進行來回切換觀察。該模塊實現(xiàn)了自動化的尋找鏡像及定位,讓研究人員只需專注于徑跡的觀察。針對大量裂變徑跡的觀察,該模塊提供了記錄功能,可以記錄下樣品所有目標(biāo)顆粒在光薄片和云母片上的位置,對目標(biāo)顆粒進行重定位,方便下次觀察和分析。

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          5、                      智能顯微鏡控  Digtal Microscope Control

              系統(tǒng)支持智能顯微鏡控制,支持透射/反射、明場/偏光等觀察方式,與樣品位Grain/Mice隨動,支持智能光強管理,支持不同倍率物鏡中心位置矯正補償。

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          6、                      目標(biāo)顆粒選  Object Grain Select

              系統(tǒng)支持多種方式尋找和選擇目標(biāo)顆粒,用于后續(xù)拍照和測量。

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          7、                      自動目標(biāo)顆粒掃描Auto Scanning/Snap

          支持單個顆粒斷層掃描、保Z-stack圖像序列,支持單顆粒超景深照片合成;支持多顆粒批量掃描,提高工作效率。

          掃描過程照片自動抓拍、自動保存,進度狀態(tài)實時可見;照片信息存入數(shù)據(jù)庫,方便查詢;提供圖片瀏覽功能,可以實現(xiàn)顆粒定位回溯、重新拍照等功能;

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          8、                      徑跡參數(shù)測  Track Measurement

          支持多種徑跡參數(shù)的自動測量和人工測量,包含徑跡數(shù)量、面積、最大,最小卡規(guī)直徑及其比率等顆粒參數(shù),且可解決裂變徑跡坐標(biāo)、空間長度、角度、徑跡數(shù)量、晶粒面積及徑跡密度的數(shù)據(jù)測量問題。

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          9、                      徑跡統(tǒng)&  Statistics&Report

          支持多種徑跡參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計,包含最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差。

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          10、                      數(shù)字薄片  Digital Slice

          支持按照樣品項目管理,掃描、存儲薄片照片和徑跡測量數(shù)據(jù)。從而實現(xiàn)薄&目標(biāo)顆粒的數(shù)字化,方便長期保存和后期分析,以及數(shù)據(jù)追溯。

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          11、                      用心服務(wù)放心使用

          全面的服務(wù)在于您的需要不只是一件產(chǎn)品,而在于您的企業(yè)或科研發(fā)展的同時,有我們對您的要求和需要一呼即應(yīng)。良好長久的合作使您方便是我們成功之處。

          系統(tǒng)自問世以來,深受廣大學(xué)及研究所等用戶的信賴和支持;一旦獲取,終生免費升級。



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