腦電仿生電刺激儀模擬器SEEG100, 專(zhuān)為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的 EEG 腦電性能測(cè)試儀，符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。
適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線測(cè)試
腦電仿生電刺激儀模擬器SEEG100
概述
依據(jù)最新的 EEG 國(guó)際法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021 所設(shè)計(jì)
精密電路設(shè)計(jì)，可輸出 1µV 微小訊號(hào)
9 通道自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)可作個(gè)別信道的性能測(cè)試
內(nèi)建 620kΩ / 4.7nF 輸出阻抗測(cè)試的 EEG 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路
可做為 EEG 訊號(hào)播放器，可播放 PhysioNet EDF、text、binary 格式的波形訊號(hào)
IEC 60601-2-26、GB 9706.226 小幫手可簡(jiǎn)化法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所需花費(fèi)的人力與時(shí)間
提供軟件開(kāi)發(fā)工具包（Software Development Kit），用戶(hù)可自行開(kāi)發(fā)客制或全自動(dòng)化測(cè)試軟件
下表顯示 SEEG 100 系統(tǒng)能支持、量測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)，及其限制
標(biāo)準(zhǔn) 章節(jié) 限制 / 批注
IEC 60601-2- 26:2012 201.12.1.101 201.12.1.101 里所有性能測(cè)試，除了共模抑制比測(cè)試。
JJG 1043 - 2008 4.1 至 4.17 4.1 至 4.17 里所有性能測(cè)試，除了共模抑制比測(cè)試。
JJF 1390 - 2013 5.1 至 5.17 5.1 至 5.17 里所有性能測(cè) 試，除了共模抑制比測(cè)試。
JJG 954 - 2000 3.1 至 3.9 3.1 至 3.9 里所有性能測(cè)試， 除了共模抑制比測(cè)試。
JJF 1388 - 2013 5.1.1 至 5.1.13 5.1.1 至 5.1.13 里所有性能 測(cè)試，除了共模抑制比測(cè) 試。
GB 9706.226- 2021 201.12.1.101 201.12.1.101 里所有性能測(cè) 試，除了共模抑制比測(cè)試。
一般限制：
（1）本設(shè)備是設(shè)計(jì)給具備隔離電路的腦電圖機(jī)使用，一般用于醫(yī)療級(jí) 腦電圖機(jī)；如果非隔離電路使用本設(shè)備，噪聲可能會(huì)過(guò)大。
（2）本產(chǎn)品接線盒上有 22 個(gè)接孔，但只有 9 個(gè)可以輸出波形，其余 13 個(gè)接孔等同于接地
腦電仿生電刺激儀模擬器SEEG100
