產(chǎn)地類別 |
國(guó)產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
能源,電子,航天,汽車,電氣 |
溫度濕度振動(dòng)三綜合濕熱試驗(yàn)箱是一種結(jié)合了溫度、濕度和振動(dòng)測(cè)試功能的試驗(yàn)設(shè)備,主要用于模擬濕熱環(huán)境下的產(chǎn)品可靠性和穩(wěn)定性測(cè)試。其主要特點(diǎn)和功能包括:溫度控制:能夠通過控制加熱或制冷系統(tǒng),精確控制試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化范圍,并保持穩(wěn)定的溫度水平。濕度控制:通過加濕裝置和除濕裝置,控制試驗(yàn)箱內(nèi)的濕度變化范圍,模擬不同濕度下的工作環(huán)境。
溫度濕度振動(dòng)三綜合濕熱試驗(yàn)箱
主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上,供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn),以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。與單一因素作用相比,更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程重要試驗(yàn)手段。
二、特點(diǎn):
具有極寬大的溫濕度控制范圍,可滿足用戶的各種需要采用平衡調(diào)溫調(diào)濕方式,可獲得安全、精確的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱加濕性能,可進(jìn)行高精度、高溫度的溫濕度控制。裝備高精度智能化的溫度調(diào)節(jié)器,溫濕度采用彩色液晶觸摸顯示屏,可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定,程序設(shè)定采用對(duì)話方式,操作簡(jiǎn)單、迅速。制冷回路自動(dòng)選擇,自控裝置具有隨溫度的設(shè)定值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的性能,實(shí)現(xiàn)高溫度狀態(tài)下的直接啟動(dòng)制冷,直接降溫。
三、主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上,供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn),以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。與單一因素作用相比,更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程*的重要試驗(yàn)手段。
二、特點(diǎn):
具有極寬大的溫濕度控制范圍,可滿足用戶的各種需要采用平衡調(diào)溫調(diào)濕方式,可獲得安全、精確的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱加濕性能,可進(jìn)行高精度、高溫度的溫濕度控制。裝備高精度智能化的溫度調(diào)節(jié)器,溫濕度采用彩色液晶觸摸顯示屏,可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定,程序設(shè)定采用對(duì)話方式,操作簡(jiǎn)單、迅速。制冷回路自動(dòng)選擇,自控裝置具有隨溫度的設(shè)定值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的性能,實(shí)現(xiàn)高溫度狀態(tài)下的直接啟動(dòng)制冷,直接降溫。
三、溫度濕度振動(dòng)三綜合濕熱試驗(yàn)箱滿足條件:
u GB/T5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢定方法
u GB10592.2-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
u GB105589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
u GB10586-1989 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
u GB/T2423.1-2001 (IEC68-2-1)試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法
u GB/T2423.2-2001 (IEC68-2-2)試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法
u GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)
u GJB150.4-1986 低溫試驗(yàn)
u GB/T2423.3-2001 恒定濕熱試驗(yàn)方法
u GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)方法
u GBT2423.4-1993 交變濕熱試驗(yàn)方法
u GB/T2423.102-2008和JJG190-97《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 KC:高
溫試驗(yàn)方法、低溫試驗(yàn)方法、濕熱試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)方法》以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)
滿足條件:
u GB/T5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢定方法
u GB10592.2-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
u GB105589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
u GB10586-1989 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
u GB/T2423.1-2001 (IEC68-2-1)試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法
u GB/T2423.2-2001 (IEC68-2-2)試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法
u GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)
u GJB150.4-1986 低溫試驗(yàn)
u GB/T2423.3-2001 恒定濕熱試驗(yàn)方法
u GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)方法
u GBT2423.4-1993 交變濕熱試驗(yàn)方法
u GB/T2423.102-2008和JJG190-97《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 KC:高溫試驗(yàn)方法、低溫試驗(yàn)方法、濕熱試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)方法》以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)