目錄:蘇州威銳科電子有限公司>>LCR測(cè)試儀>>阻抗分析儀>> 1J6510B穩(wěn)科阻抗分析儀
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更新時(shí)間：2023-10-07 19:33:50瀏覽次數(shù)：494評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
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穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動(dòng)元件設(shè)計(jì)師，電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測(cè)試人員，及生產(chǎn)線的測(cè)試人員。工程師需要在高頻率的狀況下以精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測(cè)試工具。
穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500B系列特點(diǎn)：
•簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
•電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案
•30 msec超高速測(cè)試速度
•等效Rdc 可高度四線式測(cè)試，量測(cè)到0.01mohm
•0.05%基本精度
•可內(nèi)建1Amp 或 2Amp DC Bias，外加達(dá)到40Amp DC Bias
•可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
•20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級(jí) ，達(dá)升級(jí)到120MHz
•直覺的用戶操作介面，USB、LAN、GPIB及HANDLER
•可使用滑鼠及鍵盤操控，也可外接印表機(jī)及使用USB介面儲(chǔ)存資料
•具等效電路模擬功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)
穩(wěn)科授權(quán)代理商：蘇州威銳科電子有限公司
我們的優(yōu)勢(shì)：穩(wěn)科、是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、安柏、海思、普源、同惠等
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
測(cè)試參數(shù):
電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(?)
高精度量測(cè)：
電容,電感及阻抗基本精度為±0.05%.消耗因素精度為±0.0005及品質(zhì)因素精度為±0.05%.
元件圖形掃描
6500系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測(cè). 該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀.
圖形掃描可依據(jù)頻率, 驅(qū)動(dòng)值及直流偏壓源同時(shí)在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的圖形.
顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式.單測(cè)某一頻率時(shí)可以從圖形掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)電表讀值模式.
可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1伏或20mA,實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評(píng)估元件.可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.
外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測(cè)試環(huán)境.
多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī), 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價(jià)值. 本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡(jiǎn)單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
資料儲(chǔ)存和提取
所有的測(cè)試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲(chǔ)存.
分類處理介面
Bin Handler 為可選設(shè)制, 通過25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號(hào).
印表機(jī)輸出
測(cè)試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.
待測(cè)元件連接
可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測(cè)試需要.
充電電容保護(hù)
高精密的測(cè)試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.
WK6500B系列規(guī)格參數(shù)：
機(jī)型 | 1J6505B | 1J6510B | 1J6515B | 1J6520B | 1J6530B | 1J6550B | 1J65120B | |
頻率 | 20Hz~5MHz | 20Hz~10MHz | 20Hz~15MHz | 20Hz~20MHz | 20Hz~30MHz | 20Hz~50MHz | 20Hz~120MHz | |
測(cè)試參數(shù) | L（電感）、Q（品質(zhì)因素）、D（消耗因素）、C（電容）、Z（阻抗）、X（電抗）、ACR（交流電阻）、θ（相位角）、Y（導(dǎo)納）、G（電導(dǎo)）、 B（電納） | |||||||
參數(shù)范圍 | Z, R, X: 0.01m > 2GΩ | |||||||
G, Y, B: 0.01mS ~ >2kS | ||||||||
L: 0.1nH ~ > 2kH | ||||||||
C: 1Ff ~ >1F | ||||||||
D: 0.00001 ~ >1000； Q: 0.00001 ~ >1000 | ||||||||
θ: -180o~+180o | ||||||||
電平 | 10mV~1Vrms; 200μA~20mA | |||||||
輸出阻抗 | 50Ω | |||||||
直流疊加 | 內(nèi)置：0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V（選配） | |||||||
外加：0 ~ +40A(選配) | ||||||||
測(cè)試模式 | 電表模式（測(cè)試值顯示）/ 分析模式（掃描曲線） | |||||||
諧振頻率測(cè)試 | ||||||||
測(cè)試值 / 偏差值 | ||||||||
測(cè)試值下載 / CSV格式 | ||||||||
等效電路分析測(cè)試（選配）WK65120B為標(biāo)配 | ||||||||
絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試和磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試 | ||||||||
分類挑選（選配） / 多步驟測(cè)試（選配） / 震蕩器 / 壓電組件測(cè)試（選配） | ||||||||
通信接口 | GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL（選配） | |||||||
內(nèi)存 | 20組 | |||||||
溫濕度 | 溫度0℃~40℃（操作）,-20℃~60℃（儲(chǔ)存），濕度>80% | |||||||
輸入電壓 | 使用電源90~264Vac（可自動(dòng)切換），頻率47~63Hz | |||||||
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 操作手冊(cè)，電源線，1J1011測(cè)試夾具或1J1012測(cè)試夾具，U盤 | |||||||
選配 | /M Multi Measurement Mode（多步測(cè)量模式） | /B2 Binning Opto-Coupled（光藕分選） | ||||||
/L Data Logger Mode（數(shù)據(jù)記錄模式） | /D1 0 ~+40Vdc bias（內(nèi)置） | |||||||
/E Equivalent Circuit Analysis（等效電路分析） | /D2 -40V ~+40Vdc bias（內(nèi)置） | |||||||
/B1 Binning（分選） | 訂購(gòu)65120B可附贈(zèng)選配D1/D2其中之一 | |||||||
1J1012 SMD二線式測(cè)試治具 | 5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip（插件式校準(zhǔn)件） | |||||||
1J1014 SMD四線式測(cè)試治具 | 5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMD（SMD標(biāo)準(zhǔn)件） | |||||||
1EVA40120 SMD鑷子式測(cè)試治具 | ||||||||
尺寸/凈重量 | 尺寸(mm)190/H×440/W×525/D 凈重量14.5Kg | |||||||
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