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        1. 上海首立智慧科技有限公司
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          XGT-9000-HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀
          • XGT-9000-HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀
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          貨物所在地:上海上海市

          更新時間:2024-11-27 10:43:25

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          在線詢價收藏商機(jī)

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          美國福祿克fluke
          荷蘭Haffmans(哈夫曼)
          Micro Support
          日本光洋熱系統(tǒng)
          日本UBM
          美國Pollution Control Products
          thermax測溫紙
          英國邁菱Mecmesin
          斯諾爾(SNOL)
          荷蘭microLAN
          顯微測厚儀
          日本LUCEO
          東芝TOSHIBA
          日本HEIDON
          伊斯拉視像ISRA VISION
          IMASS
          日本理研
          日本東上熱學(xué)
          James Heal
          實(shí)驗(yàn)室自動化系統(tǒng)
          英國ATAC
          日本EKO
          being
          韓國太成(TAE SUNG)
          減反射膜反射比智能測試儀
          日本中村科學(xué)
          荷蘭TQC
          瑞士萬通
          王子計(jì)測OSI
          涂裝行業(yè)檢測設(shè)備
          柴田科學(xué)SIBATA
          日本TOPCON
          物理性能測試儀器
          MAAG瑪格儀器
          上海首立
          日本ATAGO(愛宕)折光儀
          美國MOCON
          日本菊水KIKUSUI
          德國烘箱
          賽默飛世爾Thermo Fisher
          數(shù)顯V棱鏡折射率測試儀
          美國博勒飛
          萊卡Leica切片機(jī)和顯微鏡
          日本東芝
          韓國NanoSvstem
          島津設(shè)備耗材
          COFOMEGRA鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
          日本英弘精機(jī)
          SSD電離器
          美國LAWSON勞森海默菲爾
          美國哈希HACH
          菲思圖phaseⅡ
          法國凱茂KIMO
          德國SI Analytics
          日本京都電子KEM
          日本AND天平
          倒置金相分析顯微鏡
          日本電色NIPPON DENSHOKU
          美國TPS
          試劑膠水耗材
          其余檢測儀器設(shè)備
          英國ELGA超純水機(jī)
          美國AZI儀器Jerome環(huán)境檢測儀器
          日本電色儀器
          日本HIRAYAMA
          SDT超聲波檢測儀
          眼鏡檢測設(shè)備
          日本KETT
          氣體檢測儀
          MOCON
          進(jìn)口色差儀
          日本INTEC
          德國馬爾
          日立HITACHI
          寫真化學(xué)SHASHIN KAGAKU
          HORIBA(過程&環(huán)境)
          HORIBA(理科學(xué))
          萩原工業(yè)株式會社HAGIHARA
          美國首立
          德國Wolfgang Warmbier
          日本U-TECHNOLOGY
          德國尼克斯
          美國Thwing-Albert
          日本TECMAN
          TECAN 帝肯
          美國SCS
          島津
          德國 IKA艾卡
          NIKKATO
          英國OTI
          日本JASCO
          柴田科學(xué)
          折原製作所ORIHARA
          日本島津揮發(fā)性有機(jī)物VOC檢測
          大明化學(xué)工業(yè)株式會社
          瑞士梅特勒
          日本愛泰克(ETAC)
          紅魔鬼Red Devil
          美國RoadVista
          美國AZI
          雅馬拓YAMATO
          韓國NanoSystem
          日本KYOWA
          村上色彩MCRL
          美國AXOMETRICS
          日本OSG
          IHARA伊原電子
          愛麗色X-RITE
          TSI
          駿河精機(jī)SURUGA SEIKI
          HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀
          型號XGT-9000
          XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品,包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓等,并根據(jù)需求提供樣品架。

          HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀

          XGT-9000

          速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向

             

          <15µm高強(qiáng)度X射線頭,兼具高靈敏度和高空間分辨率

          高分辨相機(jī)和多種照明模式成像

          雙檢測器熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

          輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

          HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀

          技術(shù)參數(shù)

          型號

          XGT-9000

          XGT-9000SL

          基本信息

          儀器

          微區(qū)X射線熒光分析儀

          樣品類型

          固體、液體、顆粒

          檢測元素

          輕元素檢測器:C* – Am
          (常規(guī)檢測器:F – Am)

          樣品倉尺寸

          450(W) x 500(D) x 80(H)

          1030(W) x 950(D) x 500(H)

          樣品尺寸

          300(W) x 250(D) x 80(H)

          500(W) x 500(D) x 500(H)

          樣品質(zhì)量

          1 kg

          10 kg

          光學(xué)觀察

          兩個帶物鏡的高分辨率相機(jī)

          光學(xué)設(shè)計(jì)

          垂直同軸 X 射線和光學(xué)觀察

          樣品照明/觀察

          頂部、底部和側(cè)向照明/明場和暗場

          X-射線管

          功率

          50 W

          電壓

          50 kV以下

          電流

          1 mA以內(nèi)

          靶材

          Rh

          X射線光光學(xué)系統(tǒng)

          X射線頭數(shù)量

          多達(dá)配置四個

          光譜優(yōu)化初級X-射線濾光片  

          5個位置

          檢測器

          熒光X-射線檢測器

          硅漂移檢測器(SDD)

          透射X射線檢測器

          NaI(Tl)

          掃描分析

          掃描范圍

          100 mm x 100 mm

          350 mm x 350 mm

          步進(jìn)尺寸

          2 mm

          4 mm

          Operating mode

          樣品環(huán)境

          全真空/局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃(選配)

          局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃(選配)*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。




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