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        1. 深圳市京都玉崎電子有限公司

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          TOPCON拓普康

          TEM-TECH騰泰克

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          TECMAN德克曼

          HORIBA堀場

          KUBOTA久保田

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          OHKURA大倉

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          NS精密科學

          TOKYO-SEIDEN東京精電

          HONDA本多

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          NITTOSEIKO日東精工

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          SATOVAC佐藤

          FUNATECH船越龍

          MIXTER脫泡機

          SENSEZ靜雄

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          KASUGA春日電機

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          SOHGOHKEISO綜合計裝

          YAMADA山田光學

          TASETO

          精電舍SEIDENSHA

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          86-755-28578000
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          龍華新區(qū)梅龍大道906號創(chuàng)業(yè)樓
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          到貨!京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

          2024-3-19  閱讀(308)

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          到貨!京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

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          三月到貨深圳倉庫后,京都玉崎倉庫負責人對其驗貨,核對數量及質量問題安排入庫,再安排人員檢驗合格后,

          均已符合出廠要求,即將發(fā)往蘇州的客戶。






          產品詳細介紹:

          SANKO山高SWT-7100III膜厚計

           SWT系列探頭可互換。

          ◆ 兩用型 : FN-325

          ◆ 鐵材用 : Fe 系列     

          ◆ 非鐵材 : NFe 系列

          電磁式/渦電流式膜厚計

          SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ  探頭可互換。簡易測量。

          ●可根據用途來選擇探頭。

          ●輕巧簡便。

          ●在LCD畫面上顯示操作的順序指引。

          ●4個按鍵,操作簡單。

          ●可連接電腦進行數據的傳送。(7100Ⅲ)

          用    途

          ●涂層/襯層/鍍金

          ●耐酸層等絕緣性皮膜

          規(guī)    格

          測量范圍      連接探頭不同而不同(另賣)

          顯示方式       LCD畫面

          檢量線校正     2點校正式

          檢量線存儲     鐵·非鐵各一根

          數據傳送       USB(7100Ⅲ)

          電    源       單3電池(1.5V)×2

                        專用電源線(7100Ⅲ)

                        附帶自動關機功能

          使用溫度       0~40C°(不結露)

          尺寸重量       72(W)×30(H)×156(D)mm

                        約210g

          附 屬 品      收納袋

                       7100Ⅲ:專用電源線

                               USB連接線、USB軟件

          探    頭      根據測量金屬底材來選擇。

                      ·鐵底材用(Fe)

                      ·非鐵底材用(NFe)

                      ·鐵底材·非鐵底材兩用(FN-325)

                       (請參照專用探頭頁)

          探測頭型號

          FN-325

          測量方式

          電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

          測量范圍

          鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

          表示分辨率

          1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

               0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

               0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

          0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

          0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

          測量精度

          (平滑表面)

          0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

          或者是指示值的±2%以內

          101μm~3.00mm:±2%以內(鐵底材)

          101μm~2.50mm:±2%以內(非鐵底材)

          探測部

          1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

          選擇產品

          V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

          附屬品

          標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

          測量對象

          鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

                 電鍍(電解鎳除外)等

          非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

                   一般較普遍的測量物用

          SWT-7000Ⅲ系列機型

          機型

          SWT-7000Ⅲ

          SWT-7100Ⅲ

          SWT-7200Ⅲ

          測量范圍

          連接的探測頭不同測量范圍也不同。

          顯示方式

              液晶顯示LCD(數據·提示信息)、背光燈

          檢量線校正

          2點校正方式(零校正、標準校正)

          檢量線存儲

          鐵、非鐵各1根

          10根

          測量值存儲

          20,000點

          數據傳送

          USB

          USB

          統(tǒng)計功能

          內藏

          附加功能

          ●背光燈 ●測量模式的切換(普通/連續(xù)) ●檢量線、校正值的刪除

          ●自動關機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關機) ●分辨率的切換

          ●上下限值的設定(SWT-7200Ⅲ)

          電源

          單3電池 ×2

          單3電池 ×2     專用電源線

          使用溫度

          0~40C°(不結露)

          機體尺寸·重量

          72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

          附屬品

          干電池、收納袋子

          干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

          追加產品

          鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe)

          鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)






          SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)

          型號

          Fe-2.5/2.5L

          Fe-2.5LwA

          Fe-0.6Pem

          測量方式

          電磁感應式

          測量范圍

          0~2.50mm

          0~600μm

          表示分解率

          1μm:0~999μm

          切換

                       0.1μm:0~400μm

          0.5μm:400~500μm

                       0.01mm:1.00~2.50mm

          1μm:0~600μm

          切換

          0.1μm:0~400μm

           0.5μm:400~500μm

          測量精度

          (平滑面)

          0~100μm:±1μm

          又或者時顯示值的±2%以內

                       101μm~2.50mm:±2%

          0~100μm:±1μm

          又或者時顯示值的±2%以內

          101μm~600μm:±2%

          探測部

          1點定壓接觸式

          V形口套頭

            2.5:φ13×48mm

            2.5L:18×23×67mm

          1點定壓接觸式

          測量部:約20×57mm

          全長:約550~ 1.550mm

              (伸縮式)

          1點定壓接觸式

               Φ5.6×94mm

          選擇產品

          V形套頭/—

          (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

          附屬品

          標準校正片

          試驗用零校正板

          (鐵用)

          標準校正片

          試驗用零校正板(鐵用)

          收納袋子

          標準校正片

          試驗用零校正板

                 (鐵用)

          測量對象

          鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

          鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

          鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

          SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)

          型號

          Fe-10

          Fe-20

          測量方式

          電磁感應式

          測量范圍

          0~10mm

          0~20mm

          表示分解率

          1μm:0~999μm

          0.01mm:1~10mm

           1μm:0~999μm

          0.01mm:1~5mm

          0.1mm:5~20mm

          測量精度

          (平滑面)

          0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

                       3.01mm:顯示值的±3%

          探測部

          1點定壓接觸式

          V形口套頭

          φ18×47mm

          1點定壓接觸式

          V形口套頭

          φ35×59mm

          選擇產品

          附屬品

          標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)

          測量對象

          鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

          鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

          探測頭要根據需要購買。

          SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)

          型號

          NFe-2.0/NFe-2.0L

          NFe-06

          NFe-8

          測量方式

          渦電流式

          測量范圍

          0~2.00mm

          0~600μm

          0~8mm

          表示分解率

          1μm:0~999μm

          切換

          0.1μm:0~400μm

           0.5μm:400~500μm

           0.01mm:1.00~2.00mm

          1μm:0~600μm

          切換

          0.1μm:0~400μm

          0.5μm:400~500μm

          1μm:0~999μm

          0.01mm:1~8mm

          測量精度

          (平滑表面)

          0~100μm:±1μm

          又或者時顯示值的

          ±2%以內

          101μm~2.00mm:

                   ±2%以內

          0~100μm:±1μm

          又或者時顯示值的

          ±2%以內

          101μm~600μm:

                   ±2%以內

          0~100μm:±1μm

          ±(±1μm+顯示值的±2%)

          101μm~8mm:

                   ±2%以內

          探測部

          1點定壓接觸式

          V形口套頭

          2.0:φ13×47mm

          2.0L:18×23×67mm

          1點定壓接觸式

          V形口套頭

          φ11×48mm

          1點定壓接觸式

          V形口套頭

          φ35×61mm

          選擇產品

          V形套頭/-

          附屬品

          標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

          測量對象

          鋁、銅等非磁性金屬底材

          上的絕緣性皮膜等一般普

          通測量物用。

          鋁、銅等非磁性金屬底

          材上的絕緣性皮膜等

          細小的圓棒、細管、小

          物件等的高安定性用。

          鋁、銅等非磁性金屬

          底材上的絕緣性皮膜等

          比較厚的測量物用。

          探測頭要根據需要購買。




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