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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> SHASHIN可測(cè)量電池隔膜測(cè)厚儀
貨物所在地：北京北京市
所在地： 日本
更新時(shí)間：2024-11-02 16:35:21
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紅外透射膜厚度監(jiān)測(cè)器可測(cè)量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測(cè)厚儀，可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室級(jí)別到生產(chǎn)過(guò)程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測(cè)厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過(guò)同時(shí)測(cè)量 100 多個(gè)波長(zhǎng)的光譜儀，準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度、密度、成分等多個(gè)參數(shù)。
可以測(cè)量硅襯底上黑色光刻膠的薄膜厚度，而使用反射光譜法使用光學(xué)干涉涂層測(cè)厚儀很難做到這一點(diǎn)
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