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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>光學(xué)器件>>測(cè)量?jī)x>> FAC-2日本理研rikenkeiki測(cè)量裝置有機(jī)電子材料用
產(chǎn)品型號(hào)FAC-2
品 牌其他品牌
廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間：2024-10-11 11:23:55瀏覽次數(shù)：198次
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|---|
日本理研rikenkeiki測(cè)量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2特點(diǎn)介紹：
專(zhuān)用于光刻樣品的開(kāi)爾文探針
輕松設(shè)置樣品，無(wú)需微調(diào)電極和樣品之間的距離
可在大氣中測(cè)量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級(jí)
由于測(cè)量時(shí)間短，因此非常適合測(cè)量隨時(shí)間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
日本理研rikenkeiki測(cè)量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2規(guī)格參數(shù)：
有機(jī)電子材料的費(fèi)米能級(jí)測(cè)量
金屬和導(dǎo)電薄膜功函數(shù)的測(cè)量
有機(jī)EL和復(fù)制感光材料的電離勢(shì)測(cè)量
硬盤(pán)和磁帶摩擦學(xué)研究
半導(dǎo)體和引線(xiàn)框架表面氧化態(tài)的測(cè)量
精密電子材料中分子級(jí)薄膜污染檢測(cè)
產(chǎn)品分類(lèi)：開(kāi)爾文探針
模型：FAC-2
測(cè)量原理：開(kāi)爾文法
測(cè)量零件尺寸：Φ10mm
測(cè)量能量范圍：3.4至6.2eV（使用功函數(shù)為5.0eV的參考樣品進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)）
測(cè)量時(shí)間：10秒或更短（如果樣品是金屬）
重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)差）：功函數(shù)0.02eV（樣品：金板）
溫濕度范圍：溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH
電源：AC100V，50/60Hz 5A（最大）
外形尺寸：約235（寬）×330毫米（高）×408（深）毫米
重量：約12公斤
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