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易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代!
LabX XRD-6100
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對應工業(yè)環(huán)境測定標準 · 工業(yè)環(huán)境評價標準修訂
X射線衍射裝置XRD-6000 環(huán)境測定包
適于工業(yè)環(huán)境中的游離硅以及石棉的定性 · 定量分析。
游離硅的定性·定量分析
工業(yè)環(huán)境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。(從2005年4月1日開始實行)
E=3.0/(0.59Q+1) (參考)修訂前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理濃度mg/m3 Q:游離硅含有率(%)
所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。
游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中,首先規(guī)定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅(定性分析),根據(jù)其定性結果,以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標準吸收校正法進行定量。
下圖表示這些游離硅的衍射模式,分別具有各自的特征峰,因此,易于識別其種類。
物質(zhì)的衍射X射線強度因受基底物質(zhì)吸收的影響,必須進行校正。為進行校正必須求得基底物質(zhì)的X射線吸收系數(shù)??稍谝淮蔚臏y定中將其完成的方法就是「基底標準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。
各種游離硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
關于石棉,在2005年7月實施了【石棉傷害預防規(guī)則】。適用此規(guī)則的建材等樣品,如果其石棉含量超過重量5%左右以上,則可使用X射線衍射裝置以標準添加法或內(nèi)標添加法對采集來的樣品進行定量,但對于少于上述含量的樣品有時不能進行定量。
此時,作為只溶解樣品基底成分的前處理方法,實施甲酸前處理法,然后使用X射線衍射裝置以基底標準吸收校正法進行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中,也可使用配備有基底標準吸收校正法的環(huán)境測定樣品臺的X射線衍射裝置XRD-6000環(huán)境測定包。
各種石棉的衍射模式
石棉主要有蛇紋石類的纖蛇紋石,角閃石類的鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的特峰進征行定量分析。
配置 | |||
1. | X射線衍射裝置XRD-6000(2kW,NF Cu管球) | 1套 | |
2. | 石墨單色儀(CM-3121) | 1套 | |
3. | 環(huán)境測定樣品臺(RS-2001) 【規(guī)格】· 旋轉樣品臺 | 1套 | |
4. | 冷卻水循環(huán)裝置 | 1套 |
選配件 | ||
1. | 基底標準吸收校正用濾片架(Al) | |
2. | ICDD數(shù)據(jù)庫(PDF2 CD-ROM) | |
3. | PDF2檢索軟件 |
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