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        1. 產(chǎn)品推薦:氣相|液相|光譜|質(zhì)譜|電化學(xué)|元素分析|水分測定儀|樣品前處理|試驗(yàn)機(jī)|培養(yǎng)箱


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          AAS與ICP比較與選擇方法知識大全

          來源:天瑞石油化工行業(yè)銷售中心   2016年09月14日 08:49  

          AAS與ICP比較與選擇方法知識大全
           

          AAS顧名思義,就是原子吸收光譜法,該法具有檢出限低、準(zhǔn)確度高、選擇性好(即干擾少)、分析速度快等優(yōu)點(diǎn)。ICP原子發(fā)射光譜儀,是根據(jù)試樣中被測元素的原子或離子,對各元素進(jìn)行定性分析和定量分析的儀器,該儀器具有樣品用量少,應(yīng)用范圍廣且快速,靈敏和選擇性好等特點(diǎn)。

          ICP是否會*取代AAS,它們各有什么優(yōu)缺點(diǎn),下面對ICP-MS(等離子體質(zhì)譜)、ICP-AES(全譜直讀等離子體光譜)、GFAAS(石墨爐原子吸收)和FlameAAS(火焰原子吸收)4種技術(shù)的抗*力、技術(shù)指標(biāo)、操縱難度、樣品分析能力及投資運(yùn)行用度等進(jìn)行分析和比較。

           

          先從AESAAS區(qū)別說起

           

          原子發(fā)射光譜分析法AES)是利用物質(zhì)中不同的原子或離子在外層電子發(fā)生能級躍遷時(shí)產(chǎn)生的特征輻射來測定物質(zhì)的化學(xué)組成的方法。需要一個(gè)很強(qiáng)的激發(fā)光源,ICP就是一個(gè)很好的激發(fā)光源。

          ※在一定頻率的外部輻射光能激發(fā)下,原子的外層電子在由一個(gè)較低能態(tài)躍遷到一個(gè)較高能態(tài)的過程中產(chǎn)生的光譜就是原子吸收光譜(AAS)。

          1)一般來說AES在多元素測定能力上優(yōu)于AAS,但是AES在操作上比AAS來的復(fù)雜;還有就是AES由譜線重疊引起的光譜干擾較嚴(yán)重,而AAS就小的多;

          2)原子發(fā)射比吸收測定范圍要大,對于ICP而言準(zhǔn)確性也較高。有些元素原子吸收是無法測定的,但發(fā)射可測,如,P、S 等;

          3AAS比較普遍,其價(jià)格相對AES便宜,操作也比較簡單。 

           

          如何更好的使用好ICP光譜儀

           

          樣品前處理的過程:

          i根據(jù)樣品含量確定分析方法及其稱樣量,確保待測元素的含量,在ICP光譜儀檢測范圍內(nèi)。

          ii確保樣品*分解,無損失、無污染。

          iii選擇適當(dāng)?shù)慕橘|(zhì),為硝酸和鹽酸,盡量少用硫、磷酸。

          vi 確保未使用對儀器有害的試劑.(如,HF,強(qiáng)堿等)。

          這些術(shù)語,你有必要知道

          儀器的檢出限:DL=3σ(n=11)    

          檢定下限:5DL

          方法檢出限(MDL):在有基體存在的情況下測得的檢出限

          檢定下限:5MDL 

          ※在基體復(fù)雜或者不能匹配的情況下,無法測定檢出限,可采用5~10倍的儀器檢定下限(5DL)來代替也可采用加標(biāo)回收的方法來確認(rèn)方法檢定下限。

          樣品溶液中固溶物的含量:TDS

          標(biāo)準(zhǔn)玻璃同心霧化器TDS<1%

          高鹽玻璃同心霧化器TDS應(yīng)在1%~10%

          Burgener霧化器TDS>10%

          ICP光譜儀的測定范圍

          ICP光譜儀的測定下限通常>5MDL

          ICP光譜儀的測定上限通常在20%~30%左右

          2、譜線選擇

          I.低含量元素選擇靈敏線,高含量元素選擇次靈敏線或非靈敏線(盡可能保證IR<2000-3000counts/s)

          II.確保譜線無基體或主量元素干擾,若無法避免可采用基體匹配或干擾系數(shù)校正(IEC’s)

          3、背景扣除及其位置的選擇

          i.將背景位置定在盡可能平坦的區(qū)域(無小峰)

          ii.左背景、右背景以及左右背景強(qiáng)度的平均值盡可能與譜峰背景強(qiáng)度一致。

          4、分析條件*化

          影響靈敏度的因素:霧化器壓力、RF功率、輔助氣

          △E=E激發(fā)態(tài)-E基態(tài)=hc/λ發(fā)射

          5、通過有效質(zhì)控手段,確保結(jié)果準(zhǔn)確可靠

          i通過質(zhì)控樣(QC),來控制儀器的漂移,并對工作曲線進(jìn)行校準(zhǔn)。

          ii如果分析結(jié)果漂移過大,需查明原因。

          6、穩(wěn)定性差原因剖析

          *種情況:峰位上下波動。

          首先確認(rèn)是光學(xué)系統(tǒng)還是進(jìn)樣系統(tǒng)造成的連續(xù)測定Ar433.5、Ar426.6和C193.0的穩(wěn)定性,設(shè)定分析條件為:RF 功率:950W

          清洗泵速:0

          分析泵速:0

          霧化器壓力:30Psi

          輔助氣:1.0L/min

          i:Ar線和C線穩(wěn)定性好

          說明:光學(xué)系統(tǒng)沒問題,主要是進(jìn)樣系統(tǒng)造成的

          原因:

          a、霧化器堵塞,霧化效率變差。(原因可能由于含鹽量高、或者溶液中細(xì)小粉末吸附在霧化器內(nèi)表面造成的)。這種情況下,通常強(qiáng)度一直往下降。

           b、霧化室積水或者掛水。通常強(qiáng)度上下變化。

           c、進(jìn)樣系統(tǒng)漏氣。通常強(qiáng)度上下變化。

           d、泵管老化,蠕動泵泵夾位置不正確。

          ii:C線穩(wěn)定性好,Ar線不好。

          說明:長波穩(wěn)定性差。

          原因:有可能是快門或者狹縫切換有問題。

          iii:Ar線和C線穩(wěn)定性都差。

          說明:儀器光學(xué)系統(tǒng)或者發(fā)生器有問題。

          原因:

               a、采光管是否有東西擋光。

                b、CID檢測器是否結(jié)霜。通常峰形發(fā)生變化。

                c、檢查功率穩(wěn)定性(監(jiān)測IP電流變化)。

          第二種情況:峰位左右漂移

          原因:

               a、光室恒溫系統(tǒng)不穩(wěn)定。

                b、循環(huán)水散熱差。

                c、排風(fēng)系統(tǒng)風(fēng)量太小或者太大

           

          ICPAAS使用過程中所遇到的那些干擾

           

          1、ICP-MS干擾

          質(zhì)譜干擾

          質(zhì)譜干擾(同量異位素干擾)是預(yù)知的,如,58Ni對58Fe的干擾,可以使用元素校正方程、采用“冷等離子體炬焰屏蔽技術(shù)”或“碰撞池技術(shù)”降低影響。

          基體酸干擾

          HCI、HCIO4、H3PO4、H2SO4會引起質(zhì)譜干擾,可使用“碰撞池技術(shù)”、電熱蒸發(fā)等予以消除,用HNO3配制試液也可以避免質(zhì)譜干擾。

          基體效應(yīng)

          試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液粘度的差別會改變各種溶液產(chǎn)生氣溶膠的效率,可采用基體匹配法及內(nèi)標(biāo)法消除。

          電離干擾

          試樣中含有高濃度的第Ⅰ族和第Ⅱ族元素回產(chǎn)生電離干擾,可采用基體匹配法、稀釋試樣、標(biāo)準(zhǔn)加進(jìn)法、同位素稀釋法等消除。

          2、ICP-AES干擾

          光譜干擾

          ICP-AES的光譜干擾較為嚴(yán)重,可使用高分辨率的光譜儀、應(yīng)用動態(tài)背景校正等方法來消除干擾,進(jìn)步正確度。

          基體效應(yīng)

          與ICP-MS相同,可采用基體匹配法及內(nèi)標(biāo)法消除。

          電離干擾

          仔細(xì)選擇各個(gè)元素的分析條件、加進(jìn)消電離劑或采用標(biāo)準(zhǔn)加進(jìn)法,都可以減少電離干擾的影響。

          FlameAAS干擾

          化學(xué)干擾

          在高溫火焰中,干擾物與被測元素形成較強(qiáng)的化學(xué)鍵,或天生高溫難熔晶體,不易原子化??杉舆M(jìn)開釋劑、保護(hù)劑、助熔劑、改變火焰性質(zhì)予以消除。

          電離干擾

          可選擇合適的火焰種類和火焰溫度以及加進(jìn)消電離劑等方法消除。。

          背景干擾

          可采用雙波長法、氘燈校正、塞曼效應(yīng)、自吸收法等消除。

           

          ICPAAS使用過程中你所遇到的那些技術(shù)指標(biāo)

           

          檢出限

          ICP-MS的檢出限*,大部分元素為ppt級;GFAAS 次之,檢出限為亞ppb級;ICP-AES一般為1-10 ppb;而FlameAAS的檢出限大部分為10-100 ppb。

          精密度

          ICP-MS的精密度(RSD)一般為1%-3%,ICP-AES的精密度為0.3%-2%,GFAAS的精密度zui差為1%-5%,而Flame AAS的精密度*為0.1%-1%。

           

          線性動態(tài)范圍

          ICP-MS具有高達(dá)108的線性動態(tài)范圍(LDR);ICP-AES也有105以上的線性動態(tài)范圍;GFAASzui差,僅為102;Flame AAS的線性動態(tài)范圍為103。

          操縱難度

          ICP-AES的自動化是zui成熟的,可以由技術(shù)并不熟練的職員來應(yīng)用已制定的方法進(jìn)行測定工作。zui近幾年,ICP-MS在計(jì)算機(jī)控制和智能化軟件方面已經(jīng)有了很大的進(jìn)步,操縱也比較簡便,但它的方法研究非常復(fù)雜和費(fèi)時(shí)。GFAAS的分析操縱固然比ICP-MS要輕易,但制定方法仍需要相當(dāng)熟練的技術(shù)。Flame AAS的操縱則相對比較簡單輕易。

          另外一個(gè)應(yīng)該考慮的重要因素是,ICP-MS、ICP-AES和GFAAS由于自動化程度較高以及使用安全的惰性氣體,因而可以在無人看管下連續(xù)長時(shí)間工作,極大的減低了職員的勞動強(qiáng)度并進(jìn)步了工作效率。

           

          ICP*的樣品分析能力

           

          ICP-MS具有強(qiáng)大的分析丈量痕量元素的能力,每個(gè)樣品的分析時(shí)間小于5 min,在某些情況下只需2 min,就能同時(shí)測定所有元素;全譜直讀ICP-AES每個(gè)樣品的分析時(shí)間為2 min,能一次同時(shí)測定數(shù)十個(gè)元素;GFAAS每個(gè)樣品每個(gè)元素需3~4 minFlame AAS每個(gè)樣品測定一個(gè)元素約需20 s。與AAS技術(shù)相比,ICP的工作效率具有明顯的上風(fēng)。

          ICP-MS一般只能分析固體溶解量為0.2%左右的溶液,F(xiàn)lame AAS為3%以內(nèi),而 ICP-AES和GFAAS則有較大的上風(fēng),可分析固體溶解量超過20%的溶液。

           

          儀器用度比較

           

          粗略地估計(jì),儀器的基本投資ICP-MS約為ICP-AES的兩倍,ICP-AESGFAAS的兩倍,GFAASFlameAAS2~3倍。自動化程度如何以及附件的配置,會使估計(jì)有所變化,另外,超痕量分析所必須的超凈實(shí)驗(yàn)室也需要一定的投資。

          ICP-MSICP-AES的霧化器和炬管的壽命是相同的,但由于ICP-MS的一些部件如分子渦輪泵、取樣錐、截取錐、檢測器等有一定的使用壽命而需要更換,所以它開機(jī)工作的用度明顯高于ICP-AES。ICPGFAAS都需要Ar氣,但GFAAS的用量要少得多,而且GFAAS的消耗品以石墨管為主,所以GFAAS的運(yùn)行用度要低于ICP-AESFlameAAS的主要消耗品僅是乙炔等燃?xì)?,?/span>FlameAAS的工作用度zui低。

           

          選擇哪種技術(shù)或儀器,應(yīng)該綜合考慮以下因素:

           

          每星期的樣品數(shù)目;

          樣品的類型(地表水、污水、土壤、礦石、金屬等);

          需要分析哪些元素及其濃度范圍;

          是否需要測定同位素;

          使用哪種前處理方法;

          可提供試樣的體積;

          預(yù)備購買哪些選購件和附件;

          有多少購買資金;

          能提供多少運(yùn)行經(jīng)費(fèi);

          分析職員的技術(shù)水平如何。

          并根據(jù)各因素對你的重要程度,再作出抉擇。

          例如:樣品量非常大,每個(gè)樣品需測定5個(gè)以上元素,濃度在ppb至亞ppb級,假如經(jīng)費(fèi)充裕,則選擇ICP-MS比較合適。

          又如:作為一個(gè)以分析地表水、海水、產(chǎn)業(yè)廢水為主,土壤、底質(zhì)為輔的環(huán)境監(jiān)測三級站,假如經(jīng)費(fèi)許可,則選擇ICP-AESGFAAS的組合較為適宜。

           

          小結(jié)

           

          每一種技術(shù)都有一定的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),更沒有一種技術(shù)能*所有的要求。根據(jù)自己的具體情況,綜合考慮各種因素,權(quán)衡利弊,每個(gè)實(shí)驗(yàn)室必能找到一種適合自己的*選擇。

           

          參考文獻(xiàn)

          1.魏復(fù)盛,水和廢水監(jiān)測分析方法指南(中冊). 北京:中國環(huán)境科學(xué)出版社,1994

          2.魏復(fù)盛,徐曉白,閻吉昌,等. 水和廢水監(jiān)測分析方法指南(下冊). 北京:中國環(huán)境科學(xué)出版社,1997

          3.魏復(fù)盛,齊文啟. 原子吸收光譜及其在環(huán)境分析中的應(yīng)用. 北京:中國環(huán)境科學(xué)出版社,1988

          4.魏復(fù)盛,藤恩江. 水和廢水監(jiān)測分析方法. 4. 北京:中國環(huán)境科學(xué)出版社,2003

          5.徐正褆,ICPAAS的比較與選擇環(huán)境污染與防治雜志社

          (文章來自互聯(lián)網(wǎng))

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