三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱需要滿足的條件和特點(diǎn)

滿足的試驗(yàn)方法：     

GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；      

 GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；       

 GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；      

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；      

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；      

 GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。      

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式      

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式     

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化      

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則      

GB/T 2423.22-2002溫度變化      

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則     

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估      

溫度沖擊條件包括：高溫到低溫，低溫到高溫，高溫到常溫，低溫到常溫，常溫到高溫，常溫到低溫  ;

 常用行業(yè)與規(guī)格參數(shù)：

   是用于測試手機(jī)連接器，電腦連接器，電源連接器，信號連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC連接器，電感器、濾波器、變壓器，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機(jī)，電腦，太陽能組件，光伏組件，光纖，光電，LED，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，軍工，航天，航空，汽車燈產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。     

     可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。>可獨(dú)力當(dāng)作高溫箱或低溫箱使用,一機(jī)三用。