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          GB-PCB

          來源:廣東宏展科技有限公司   2016年12月29日 14:45  
          GB-PCB
          項(xiàng)目規(guī)范條件規(guī)范名稱(中文)
          1GB 4943-1995信息技術(shù)設(shè)備(包括電氣事務(wù)設(shè)備)的安全
          2GB/T 12629-1990限定燃燒性的薄覆銅箔環(huán)氧玻璃布層壓板 (制造多層印刷電路板用)
          3GB/T 12630-1990一般用途的薄覆銅箔環(huán)氧玻璃布層壓板 (制造多層印刷電路板用)
          4GB/T 12631-1990印刷導(dǎo)線電阻測(cè)試方法
          5GB/T 13555-1992印刷電路用撓性覆銅箔聚酰亞胺薄膜
          6GB/T 13556-1992印刷電路用撓性覆銅箔聚脂薄膜
          7GB/T 13557-1992印刷電路用撓性覆銅箔材料試驗(yàn)方法
          8GB/T 1360-1998印刷電路網(wǎng)格體系
          9GB/T 14708-1993撓性印刷電路用涂膠聚酯薄膜
          10GB/T 14709-1993撓性印刷電路用涂膠聚酰亞胺薄膜
          11GB/T 16261-1996印刷電路板總規(guī)范
          12GB/T 16315-1996印刷電路用限定燃燒性的覆銅箔聚酰亞胺玻璃布層壓板
          13GB/T 16317-1996多層印刷電路用限定燃燒性的薄覆銅箔聚酰亞胺玻璃布層壓板
          14GB/T 2036-1994印刷電路術(shù)語
          15GB/T 4588.10-1995印刷電路板 第10部分: 有貫穿連接的剛撓雙面印刷電路板規(guī)范
          16GB/T 4588.1-1996無金屬化孔單雙面印刷電路板分規(guī)范
          17GB/T 4588.2-1996有金屬化孔單雙面印刷電路板分規(guī)范
          18GB/T 4588.3-1988印刷電路板設(shè)計(jì)和使用
          19GB/T 4588.4-1996多層印刷電路板 分規(guī)范
          20GB/T 4677.10-1984印刷電路板可焊性測(cè)試方法
          21GB/T 4677.11-1984印刷電路板耐熱沖擊試驗(yàn)方法
          22GB/T 4677.1-1984印刷電路板表層絕緣電阻測(cè)試方法
          23GB/T 4677.12-1988印刷電路板互連電阻測(cè)試方法
          24GB/T 4677.13-1988印刷電路板金屬化孔電阻的變化 熱循環(huán)測(cè)試方法
          25GB/T 4677.14-1988印刷電路板蒸汽-氧氣加速老化試驗(yàn)方法
          26GB/T 4677.15-1988印刷電路板絕緣涂層耐溶劑和耐焊劑試驗(yàn)方法
          27GB/T 4677.16-1988印刷電路板一般檢驗(yàn)方法
          28GB/T 4677.17-1988多層印刷電路板內(nèi)層絕緣電阻測(cè)試方法
          29GB/T 4677.18-1988多層印刷電路板層間絕緣電阻測(cè)試方法
          30GB/T 4677.19-1988印刷電路板電路完善性測(cè)試方法
          31GB/T 4677.20-1988印刷電路板鍍層附著性試驗(yàn)方法 摩擦法
          32GB/T 4677.21-1988印刷電路板鍍層孔隙率測(cè)試方法 氣體暴露法
          33GB/T 4677.2-1984印刷電路板金屬化孔鍍層厚度測(cè)試方法 微電阻法
          34GB/T 4677.22-1988印刷電路板表面離子污染測(cè)試方法
          35GB/T 4677.23-1988印刷電路板阻燃性能測(cè)試方法
          36GB/T 4677.3-1984印刷電路板拉脫強(qiáng)度測(cè)試方法
          37GB/T 4677.4-1984印刷電路板抗剝強(qiáng)度測(cè)試方法
          38GB/T 4677.5-1984印刷電路板翹曲度測(cè)試方法
          39GB/T 4677.6-1984金屬和氧化覆蓋層厚度測(cè)試方法 截面金相法
          40GB/T 4677.7-1984印刷電路板鍍層附著力試驗(yàn)方法 膠帶法
          41GB/T 4677.8-1984印刷電路板鍍涂覆層厚度測(cè)試方法 β反向散射法
          42GB/T 4677.9-1984印刷電路板鍍層孔隙率電圖像測(cè)試方法
          43GB/T 4721-1992印刷電路用覆銅箔層壓板通用規(guī)則
          44GB/T 4722-1992印刷電路用覆銅箔層壓板試驗(yàn)方法
          45GB/T 4723-1992印刷電路用覆銅箔酚醛紙層壓板
          46GB/T 4724-1992印刷電路用覆銅箔環(huán)氧紙層壓板
          47GB/T 4725-1992印刷電路用覆銅箔環(huán)氧玻璃布層壓板
          48GB/T 4825.1-1984印刷電路板導(dǎo)線局部放電測(cè)試方法
          49GB/T 4825.2-1984印刷電路板導(dǎo)線載流量測(cè)試方法
          50GB/T 5489-1985印刷電路板制圖
          51GB/T 7613.1-1987印刷電路板導(dǎo)線耐電流試驗(yàn)方法
          52GB/T 7613.2-1987印刷電路板表層耐電壓試驗(yàn)方法
          53GB/T 7613.3-1987印刷電路板金屬化孔耐電流試驗(yàn)方法
          54GB/T 9315-1988印刷電路板外形尺寸系列

          ■其它類

          項(xiàng)目規(guī)范條件規(guī)范名稱(中文)規(guī)范名稱(英文)適用規(guī)范
          1GB/T 1772-1979電子元器件失效率試驗(yàn)方法Determination of failure rate of electronic elements and components 
          2GB/T 2689.1-1981恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則Constant stress life tests and acceleration life tests--General rules 
          3GB/T 4166-1984電子設(shè)備用可變電容器的試驗(yàn)方法Methods of test of variable capacitors in electronic equipmentIEC 60418-1-81
          4GB/T 4619-1996液晶顯示器件測(cè)試方法Measuring methods for liquid crystal display devices 
          5GB/T 4677.1-1984印刷電路板表層絕緣電阻測(cè)試方法Test method of surface insulation resistance for printed boardsIEC 60326-2-76
          6GB/T 4677.2-1984印刷電路板金屬化孔鍍層厚度測(cè)試方法 微電阻法Micro-resistance test method of plating thickness of platedthrough holes for printed boardsIPC TM-650
          7GB/T 4677.3-1984印刷電路板拉脫強(qiáng)度測(cè)試方法Test methods of pull strength for printed boardsIEC 60326-2-76
          8GB/T 4677.4-1984印刷電路板抗剝強(qiáng)度測(cè)試方法Test methods of peel strength for printed boardsIEC 60326-2-76
          9GB/T 4677.5-1984印刷電路板翹曲度測(cè)試方法Test methods of platness for printed boardsIPC D-300
          10GB/T 4677.10-1984印刷電路板可焊性測(cè)試方法Test method of solderability for printed boardsIEC 60068-2-20C
          11GB/T 4677.11-1984印刷電路板耐熱沖擊試驗(yàn)方法Test methods of thermal shock for printed boardsIEC 60326-2-76
          12GB/T 4677.12-1988印刷電路板互連電阻測(cè)試方法Test method of interconnection resistance for printed boardsIEC 60326-2-76
          13GB/T 4677.13-1988印刷電路板金屬化孔電阻的變化 熱循環(huán)測(cè)試方法Test method of change in resistance of plated-through holes--Thermal cycling for printed boardsIEC 60326-2A-80
          14GB/T 4677.14-1988印刷電路板蒸汽-氧氣加速老化試驗(yàn)方法Test method of steam/oxygen accelerated ageing of printed boardIEC 60326-2A-80
          15GB/T 4677.17-1988多層印刷電路板內(nèi)層絕緣電阻測(cè)試方法Test method for insulation resistance within inner layers of multilayer printed boardsIEC 60326-2-76
          16GB/T 4677.18-1988多層印刷電路板層間絕緣電阻測(cè)試方法Test method for insulation resistance between layers of multilayer printed boardsIEC 60326-2-76
          17GB/T 7613.1-1987印刷電路板導(dǎo)線耐電流試驗(yàn)方法Test method for current proof of conductors on printed boards 
          18GB/T 7613.2-1987印刷電路板表層耐電壓試驗(yàn)方法Test methods for voltage proof of surface layers on printed boards 
          19GB/T 12631-1990印刷導(dǎo)線電阻測(cè)試方法Test method for resistance of conductor of printed boardsIEC 60326-2-76
          20GB/T 12848-1991扭曲向列型液晶顯示器件總規(guī)范 (可供認(rèn)證用)Generic specification of twisted nematic liquid crystal display devices 
          21GB/T 15427-1994彩色顯示管測(cè)試方法Methods of measurement of colour display tubes 

              宏展科技擁有一個(gè)專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)的科研機(jī)構(gòu),具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗(yàn)室,聚集了行業(yè)內(nèi)一批的各類人才和專家,強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)著國內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向.現(xiàn)目前公司具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、太陽輻射試驗(yàn)箱、工業(yè)烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱和高風(fēng)速淋雨試驗(yàn)箱等氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備及訂制產(chǎn)品處于國內(nèi)、高水準(zhǔn)。 

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