如果我們用電子顯微鏡測(cè)量粒子,這就像我們用十字線來量直徑,把這些直徑相加后被粒子數(shù)量除,得到一個(gè)平均結(jié)果。我們可以看到,用這種方法我們得到D[1,0],即長(zhǎng)度平均值;如果我們得到顆粒的平面圖像,通過測(cè)量每一顆粒的面積并將它們累加后除以顆粒數(shù)量,我們得到D[2,0],即面積平均徑;如果采用一種比如電子區(qū)域感應(yīng)的方法,我們就可以測(cè)量每一顆粒的體積,將所有顆粒的體積累加后除以顆粒的數(shù)量,我們得到D[3,0],即體積平均徑。用激光法可以得到D[4,3],也叫體積平均徑。如果粉體密度是恒定的,體積平均徑與重量平均徑是一致的。由于不同的粒度測(cè)試技術(shù)都是對(duì)粒子不同特性的測(cè)量,所以每一種技術(shù)都很會(huì)產(chǎn)生一個(gè)不同的平均徑而且它們都是正確的。這就難免給人造成誤解盒困惑。假設(shè)3個(gè)球體其直徑分別為1,2,3個(gè)單位,那么不同方法計(jì)算出的平均徑就大不相同:
尺寸(cm) | 數(shù)量 | 數(shù)量 百分?jǐn)?shù) | 重量 百分?jǐn)?shù) |
10-1000 | 7000 | 0.2 | 99.96 |
1-10 | 17500 | 0.5 | 0.03 |
0.1-1 | 3500000 | 99.3 | 0.01 |
合計(jì) | 3524500 | 100 | 100 |
表2 顆粒大小數(shù)量與分布的影響 |
如果我們用電子顯微鏡測(cè)量顆粒,我們從前面的討論知可以得到D[1,0]或叫做數(shù)量—長(zhǎng)度平均徑。如果我們確實(shí)需要質(zhì)量或體積平均徑,則我們必須將數(shù)量平均值轉(zhuǎn)化成為質(zhì)量平均值。以數(shù)學(xué)的角度來看,這是容易且可行的,但讓我們來觀察一下這種轉(zhuǎn)換的結(jié)果。
假設(shè)我們的電子顯微鏡測(cè)量數(shù)量平均徑時(shí)的誤差為±3%,當(dāng)我們把數(shù)量平均徑轉(zhuǎn)換成質(zhì)量平均徑時(shí),由于質(zhì)量是直徑的立方函數(shù),則zui終質(zhì)量平均徑的誤差為±27%。
但是如果我們像對(duì)激光衍射那樣來計(jì)算質(zhì)量或體積分布,則情況就不同了。對(duì)于被測(cè)量的在懸浮液中重復(fù)循環(huán)的穩(wěn)定的樣品,我們得出±0.5%重復(fù)性誤差的體積平均徑。如果我們將它轉(zhuǎn)換為數(shù)量平均,則數(shù)量的平均徑誤差是0.5%的立方根,小于1.0%。在實(shí)際應(yīng)用中,這意味著如果我們用電子顯微鏡且我們真正想得到的是體積或質(zhì)量分布,則忽略或丟失1個(gè)10u粒子的影響與忽略或丟失1000個(gè)1u粒子的影響相同。由此我們必須意識(shí)到這一轉(zhuǎn)換的巨大的危險(xiǎn)。在Malvern Sizers 這種型號(hào)的儀器中,DOS系統(tǒng)與Windows軟件都可計(jì)算其它導(dǎo)出的直徑,但我們必須在怎樣解釋這些導(dǎo)出的直徑方面很謹(jǐn)慎。依據(jù)以下的等式(Hatch-Choate轉(zhuǎn)換)(參考7),不同的平均值可互相轉(zhuǎn)換。(計(jì)算方法略)
我們已看到,Malvern激光衍射技術(shù)是分析光能數(shù)據(jù)來得出顆粒體積分布(對(duì)于弗朗和費(fèi)理論,投影面積分布是假定的)。這一體積分布就像以上所列的那樣可轉(zhuǎn)換成任何一個(gè)數(shù)量或長(zhǎng)度直徑。
但是在任何一個(gè)分析方法中,我們必須意識(shí)到這種轉(zhuǎn)換的結(jié)果(見上一段“數(shù)量,長(zhǎng)度,體積/質(zhì)量平均數(shù)之間的轉(zhuǎn)換”)哪個(gè)平均徑是由儀器實(shí)際測(cè)量的,哪些是由測(cè)量值導(dǎo)出的。相對(duì)于導(dǎo)出的直徑,我們應(yīng)更相信所測(cè)直徑。實(shí)際上,在一些實(shí)例中,*依靠導(dǎo)出數(shù)據(jù)是很危險(xiǎn)的。例如,Malvern激光粒度儀以m2/cc或m2/kg的形式給出了比表面積。但對(duì)于該值我們不能太當(dāng)真。如果我們確實(shí)需要得到物質(zhì)的比表面積,那么我們就應(yīng)該用直接測(cè)量比表面積的具體的方法,如B.E.T法等去直接測(cè)量。
每一個(gè)不同的粒度測(cè)量方法都是測(cè)量粒子的一個(gè)不同的特性(大小)。我們可以根據(jù)多種不同的方法得到不同的平均結(jié)果(如D[4,3],D[3,2]等),那么我們應(yīng)該用什么數(shù)字呢?讓我們舉一個(gè)簡(jiǎn)單的例子,兩個(gè)直徑分別為1和10的球體,對(duì)冶金行業(yè),如果我們計(jì)算簡(jiǎn)單的數(shù)字平均直徑,我們得到的結(jié)果是:D(1,0)=(1+10)/2=5.5。但是如果我們感興趣的是物質(zhì)的質(zhì)量,我們知道,質(zhì)量是直徑的三次函數(shù),我們就發(fā)現(xiàn)直徑為1的球體的質(zhì)量為1,直徑為10的球體的質(zhì)量為1000。也就是說,大一些的球體占系統(tǒng)總質(zhì)量的1000/1001。在冶金上我們可以丟掉粒徑為1的球體,這樣我們只會(huì)損失總質(zhì)量的0.1%。因此簡(jiǎn)單的數(shù)字平均不能的反映系統(tǒng)的質(zhì)量,用D[4,3]能更好地反映顆粒地平均質(zhì)量。
在我們上述的兩個(gè)球體例子中,質(zhì)量或體積動(dòng)量平均徑計(jì)算如下:
該值能比較充分地表示系統(tǒng)的質(zhì)量更多的存在哪里,這對(duì)一些行業(yè)非常重要。但是對(duì)于一間制造大規(guī)模集成電路的潔凈的屋子來說,顆粒的數(shù)量或濃度就是zui重要的了,一個(gè)顆粒落在硅片上,就將會(huì)產(chǎn)生一個(gè)疵點(diǎn)。這時(shí)我們就要采用一種方法直接測(cè)量粒子的數(shù)量或濃度。從本質(zhì)上說,這是顆粒計(jì)數(shù)與測(cè)量顆粒大小之間的區(qū)別。對(duì)于顆粒計(jì)數(shù)來說,我們記錄下每一個(gè)顆粒并且點(diǎn)出數(shù)量就可以了,顆粒的大小不太重要;對(duì)于測(cè)量顆粒大小來說,顆粒的大小或分布是我們關(guān)心的,顆粒的數(shù)量并不重要。
定義這三個(gè)術(shù)語是很重要的,它們?cè)诮y(tǒng)計(jì)及粒度分析中常常被用到。
平均徑:這是表示顆粒平均大小的數(shù)據(jù)。有很多不同的平均值的算法,如D[4,3]等。
中值:也叫中位徑或D50,這是一個(gè)表示粒度大小的典型值,該值準(zhǔn)確地將總體劃分為二等份,也就是說有50%的顆粒超過此值,有50%的顆粒低于此值。
zui頻值:這是頻率分布的zui通用的值,也就是說頻率曲線的zui高點(diǎn)。設(shè)想這是一般的分布或高斯分布。則平均值,中值和zui頻值將恰好處在同一位置,如圖4。但是,如果這種分布是如圖5所示的雙峰分布。則平均直徑幾乎恰恰在這兩個(gè)峰的中間。實(shí)際上并不存在具有該粒度的顆粒。中值直徑將位于偏向兩個(gè)分布中的較高的那個(gè)分布1%,因?yàn)檫@是把分布地分 成二等份的點(diǎn)。zui頻值將位于較高曲線的頂部。由此可見,平均值、中值和zui頻值有時(shí)是相同的,有時(shí)是不同的,這取決于樣品的粒度分布的形態(tài)。注意,在Malvern分析表中:
- D[4,3]是體積或質(zhì)量動(dòng)量平均值。
- D[V,0.5]是體積(v)中值直徑,有時(shí)表示為D50或D0.5
- D[3,2]是表面積動(dòng)量平均值。
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