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          軍/民用品可靠性試驗

          來源:東莞市宏展儀器有限公司 www.hongzhangroup.com   2011年01月03日 19:39  

          軍/民用品可靠性試驗
           
           

          一、能實施的環(huán)境試驗項目
              1.
          氣候環(huán)境試驗(GB2423,GJB150,GB4208,RTCA/Do 160E,Mil-Std-810F
              1.1
          溫度試驗:高溫試驗、低溫試驗、溫度變化、溫度沖擊(熱沖擊、溫度驟變)、溫度循環(huán)(溫度漸變)試驗等;
              1.2
          濕度試驗:防潮試驗(濕度試驗、恒定濕熱、交變濕熱);
              1.3
          腐蝕試驗:鹽霧試驗:中性鹽霧試驗NSS/銅鹽加速乙酸鹽霧試驗CASS/銅鹽加速醋酸鹽霧試驗CASS試驗/銅加速醋酸鹽霧試驗CASS/酸性鹽霧試驗 /醋酸鹽霧試驗ASS、霉菌試驗(防霉試驗、長霉試驗)、大氣腐蝕試驗氣體腐蝕試驗:二氧化硫氣體腐蝕試驗(SO2)、硫化氫氣體腐蝕試驗(H2S)、絲狀腐蝕試驗/循環(huán)腐蝕試驗;
              1.4
          其它:防塵防水(IP防護等級、IP等級、IP代碼、外殼防護等級、沙塵試驗(揚塵試驗、防塵試驗)、浸水試驗防水試驗、淋雨試驗、砂塵試驗、凍雨試驗、老化試驗、低氣壓試驗(低壓試驗、高度試驗、高空試驗、快速減壓試驗、快速氣壓變化)、爆炸性減壓(快速減壓、迅速減壓)、高氣壓試驗(過壓試驗、正壓試驗)、太陽輻照(太陽輻射、陽光輻射、日照試驗、日照輻射、人工加速光老化試驗、氙燈光老化試驗)、風壓試驗(風載荷)、熱真空試驗、爆炸性大氣、噪聲試驗等。
              2.
          機械環(huán)境試驗動力學環(huán)境試驗GB2423,GJB150RTCA/Do 160E,Mil-Std-810F
              2.1
          振動試驗:正弦振動、隨機振動、復合振動、掃描振動、定頻振動、飛機炮振試驗炮擊振動試驗;
              2.2
          其它:沖擊試驗(高g值沖擊如30000g、艦船沖擊試驗)、地震試驗(地震模擬試驗)、碰撞試驗、跌落試驗、包裝運輸、拉伸試驗、傾斜搖擺、離心試驗(恒定加速度試驗)、顛振試驗等。
              3.
          綜合環(huán)境試驗(GB2423,GJB150,Mil-Std-810F
              3.1
          溫度高度試驗、溫度濕度高度試驗、濕度高度試驗、低溫低氣壓試驗;
              3.2
          溫度濕度試驗、溫度濕度振動試驗、溫度振動試驗;
              3.3
          振動噪聲試驗(聲振聯(lián)合試驗、振聲試驗)

          【可靠性試驗】:可靠性實驗室(可靠性試驗室)
             
          老練試驗老煉試驗、環(huán)境應力篩選試驗、可靠性增長試驗、可靠性驗收試驗
               
          可靠性鑒定試驗特定環(huán)境下的產(chǎn)品平均*時間MTBF)、壽命試驗、耐久性試驗
             
          可靠性強化試驗、高加速壽命試驗HALT、高加速環(huán)境應力篩選試驗HASS
             
          綜合應力試驗:兩綜合試驗振動-溫度、溫度-濕度、振動-濕度、三綜合試驗振動-溫度-濕度、四綜合試驗低氣壓-振動-溫度-濕度、噪聲-振動-溫度-濕度
            
          可靠性試驗策劃、大綱制定、試驗方案設計
             
          系統(tǒng)可靠性分析與試驗結果綜合評估
             
          產(chǎn)品可靠性故障分析與診斷
             
          產(chǎn)品貯存可靠性分析

          【包裝運輸試驗】
              
          包裝試驗(GB/T4857GB6543,GB6544QB/T1649):碰撞、跌落、傾斜、翻倒等。

          二、各試驗項目的標準及zui大試驗能力
          1
          低氣壓試驗(低氣壓實驗)(zui大體積:150立方,12*3.5*3.5m
          GB/T2423.21-91
          電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法
          GJB150.2-86
          軍用設備環(huán)境試驗方法 低氣壓(高度)試驗
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB367A-2001
          《軍用通信設備通用規(guī)范》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法105 低氣壓試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          2 低溫試驗(zui大體積:80立方,14*2.5*2.5m
          GJB150.4-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB4.3-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 低溫試驗》
          GJB4.4-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗》
          GJB367A-2001
          《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.27 低溫試驗
          GB/T2423.1-2001
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗A:低溫》
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.4 低溫負荷試驗
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.5 低溫貯存試驗
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          3 高溫試驗(zui大體積:80立方,14*2.5*2.5m
          GJB128A-97
          《半導體分立器件試驗方法》
          GJB150.3-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB4.2-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GJB367A-2001
          《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.28 高溫試驗
          GJB548A-96
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D
          《微電子器件試驗方法和程序》
          GB/T2423.2-2001
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫》
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          4 濕熱試驗(zui大體積:80立方,14*2.5*2.5m
          GJB128A-97
          《半導體分立器件試驗方法》
          GJB150.9-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB4.5-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 恒定濕熱試驗》
          GJB4.6-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 交變濕熱試驗》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法103穩(wěn)態(tài)濕熱試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法106耐濕試驗
          GJB367A
          2001《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.29 濕熱
          GJB548A-96
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D
          《微電子器件試驗方法和程序》
          GB/T2423.3-2006
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗》
          GB/T2423.4-93
          《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法》
          GB/T2423.9-2001
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Cb:設備用恒定濕熱
          GB/T2423.34-2005
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗》
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.3 恒定濕熱試驗
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          5 沖擊試驗(zui大加速度:30000g
          GJB128A-97
          《半導體分立器件試驗方法》
          GJB150.18-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法 沖擊試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB4.8-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 顛震試驗》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法213沖擊(規(guī)定脈沖)試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GJB367A-2001
          《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.39 沖擊和4.7.42 顛震
          GJB548A-96 www.hongzhangroup.com
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D
          《微電子器件試驗方法和程序》
          GB/T2423.5-1995
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊》
          GB/T2423.6-1995
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞》
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》5.2 碰撞試驗
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          6 碰撞試驗
          GB/T 2423.6-1995
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法 試驗Eb和導則: 碰撞
          GJB4.8-83
          艦船電子設備環(huán)境試驗 顛振試驗
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          7 運輸試驗
          QJ/T 815.2-1994
          航天工業(yè)行業(yè)標準 產(chǎn)品公路運輸加速模擬試驗方法

          8 恒定加速度試驗 (離心試驗)
          GJB128A-97
          《半導體分立器件試驗方法》
          GB/T 2423.15-1995
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ga和導則:穩(wěn)態(tài)加速度
          GJB 150.15-1986
          軍用設備環(huán)境試驗方法 加速度試驗
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87www.hongzhangroup.com
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法212 穩(wěn)態(tài)加速度試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GJB548A-96
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D
          《微電子器件試驗方法和程序》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          9 跌落試驗
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》5.3 自由跌落試驗
          GB/T2423.8-1995
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落》方法一:自由跌落

          10 振動試驗(zui大推力:30t;zui大承載:20t
          GJB128A-97
          《半導體分立器件試驗方法》
          GJB150.16-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法 振動試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法214隨機振動試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GJB367A-2001
          《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.38 振動
          GJB4.7-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 振動試驗》
          GJB548A-96
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D
          《微電子器件試驗方法和程序》
          GB/T2423.10-1995
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動(正弦)》
          GB/T2423.11-1997
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法:試驗Fd:寬頻帶隨機振動—-一般要求
          GB/T2423.12-1997
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動-- 高再現(xiàn)性
          GB/T2423.13-1997
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動-- 中再現(xiàn)性
          GB/T2423.14-1997
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動-- 低再現(xiàn)性
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》5.1 掃頻振動(正弦)試驗
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          11 溫度沖擊
          GJB150.5-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法溫度沖擊試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB548A-96
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D www.hongzhangroup.com
          《微電子器件試驗方法和程序》
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GB/T2423.22-2002
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          12 溫度變化
          SJ/T 10325-92
          《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.6 溫度變化試驗
          GB/T2423.22-2002
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 GJB150.5-86 軍用設備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法方法107 溫度沖擊試驗
          GJB1032-90
          電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選方法
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          13 鹽霧試驗(zui大2立方)
          GJB128A-97
          《半導體分立器件試驗方法》
          GJB150.11-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GJB4.11-83
          《艦船電子設備環(huán)境試驗 鹽霧試驗》
          GJB548A-96
          《微電子器件試驗方法和程序》
          MIL-STD-883D
          《微電子器件試驗方法和程序》
          GB/T2423.17-93
          《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法》
          GB/T2423.18-2000
          《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
          GJB360A-96
          電子及電氣元件試驗方法 方法101 鹽霧試驗
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          14 霉菌試驗(長霉試驗)
          GB/T2423.16-1999
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分 試驗方法 試驗J和導則:長霉
          GJB4.10-83
          艦船電子設備環(huán)境試驗 霉菌試驗
          GJB150.10-86
          軍用設備環(huán)境試驗方法 霉菌試驗
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          15 溫度/振動綜合試驗
          GB/T 2423.35-2005
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動正弦綜合試驗方法
          GB/T 2423.36-2005
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動正弦綜合試驗方法

          16 溫度/低氣壓(高度)綜合試驗(zui大體積:26立方,2850×2190×4000
          GB/T2423.25-1992
          電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
          GB/T2423.26-1992
          電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
          GJB150.6-86
          軍用設備環(huán)境試驗方法 溫度-高度試驗

          17 低溫/低氣壓(zui大體積:26立方,2850×2190×4000
          GB/T2423.25-1992
          電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

          18 高溫高氣壓(zui大體積:26立方,2850×2190×4000
          GB/T2423.26-1992
          電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

          19 溫度/濕度
          GB/T 2423 www.hongzhangroup.com

          20 可靠性試驗
          GJB899-90
          《可靠性鑒定和驗收試驗》
          MIL-STD-781D-86
          裝電字[2002]110號《*電子裝備可靠性鑒定試驗實施方法》
          GB/T 12165-1998
          《盒式磁帶錄音機可靠性要求和試驗方法》
          GJB 1407-92
          可靠性增長試驗
          GB 5080.7-1986
          設備可靠性試驗恒定失效率假設下的失效率與平均*時間的驗證試驗方案

          21 環(huán)境應力篩選
          GJB899-90
          《可靠性鑒定和驗收試驗》
          MIL-STD-2164-85
          裝電字[2002]110號《*電子裝備可靠性鑒定試驗實施方法》
          GB/T 12165-1998
          《盒式磁帶錄音機可靠性要求和試驗方法》

          22 二氧化硫
          GB/T 2423

          23 硫化氫
          GB/T 2423

          24 高壓蒸煮
          GB/T 2423

          25 太陽輻射(zui大體積:)
          GJB150-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》
          GB/T 2423-1995
          電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射
          GB/T16422.2-99
          《塑料實驗室光源暴露試驗方法 第二部分:氙弧燈》
          GB/T14522-93
          《機械工業(yè)產(chǎn)品用塑料、涂料、橡膠材料人工氣候加速試驗方法》
          ISO 4892-1994
          《塑料實驗室光源暴露試驗方法 第二部分:氙弧燈

          26 防塵防水(外殼防護等級、IP等級、IP代碼、IP防護等級)
          GB4208-93
          《外殼防護等級(IP標志)》
          IEC 529-1989
          《外殼防護等級(IP標志)》

          27 砂塵試驗(沙塵施壓)(zui大尺寸:)
          GB/T 2423
          MIL-STD-202F
          《電子及電氣元件試驗方法》
          GB4208-93
          《外殼防護等級(IP標志)》
          IEC 529-1989
          《外殼防護等級(IP標志)》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          28 防水試驗、浸水試驗
          GB/T 2423
          GB/T13543-92
          《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
          GB4208-93
          《外殼防護等級(IP標志)》
          IEC 529-1989
          《外殼防護等級(IP標志)》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          29 淋雨試驗 (zui大尺寸:17700×6500×6520;高度:54.5m;寬度:73.5m;長度:7.816.2m
          GJB 150.8-86
          軍用設備環(huán)境試驗方法 淋雨試驗
          GB/T2423.38-2005
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則
          GB4208-93
          《外殼防護等級(IP標志)》
          IEC 529-1989
          《外殼防護等級(IP標志)》
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

          30 浸漬試驗
          GJB150-86
          《軍用設備環(huán)境試驗方法》
          MIL-STD-810F
          《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
          GJB367.2-87
          《軍用通信設備通用技術條件》

          31 地震模擬試驗(地震試驗)(zui大噸位:60t;)
          YD5096——2005
          通信用電源設備抗地震性能檢測規(guī)范
          美國IEEEStd344-1987IEEEStd382 核設備抗震試驗
          HAF J0053
          核電設備抗震鑒定試驗指南www.hongzhangroup.com

          EJ T 706-1992 核用繼電器抗震試驗
          GB T2424.25-2000
          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗導則 地震試驗方法

          32 熱真空試驗

          33 高氣壓試驗(過壓試驗)(zui大尺寸:φ00×00,zui大氣壓:0.6MPa
          RTCA/DO-160E
          機載設備環(huán)境條件和試驗方法

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