能量色散X熒光光譜儀
XTU-50B 鍍層膜厚分析儀
目 錄
一、產(chǎn)品型號
1.1 產(chǎn)品型號
二、儀器介紹
2.1 儀器概述
2.2 性能優(yōu)勢
2.3 技術(shù)指標(biāo)
三、儀器硬件主體配置
3.1 設(shè)備外觀
3.1 探測系統(tǒng)
3.2 X光管
3.3 高壓電源
3.4 微動平臺
3.5 高分辨率CCD
3.6 散熱系統(tǒng)
3.7 防輻射安全系統(tǒng)
四、儀器軟件配置
4.1 軟件界面
4.2 功能特點(diǎn)
五、儀器的外圍設(shè)備
5.1 計(jì)算機(jī)
5.2 噴墨打印機(jī)
5.2 儀器相關(guān)配件及技術(shù)資料
六、及售后服務(wù)
一、產(chǎn)品型號
1、產(chǎn)品型號 | ||||||||
型號: Ux-720 鍍層膜厚檢測儀
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二、儀器簡介
2.1 儀器概述
XTU-50B鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過3年研發(fā),專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型,三重射線防護(hù)系統(tǒng);人性化操作界面;的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定,即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
2.2 性能優(yōu)勢
1.的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定,即對樣品鍍層膜厚進(jìn)行測試
2.除可對金屬鍍層測試外,還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進(jìn)行測量,開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術(shù)
3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設(shè)定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能,大幅提高測量精度
4.業(yè)內(nèi)*提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線
5.三重射線防護(hù)(軟件、硬件、迷宮設(shè)計(jì)),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害
6.儀器外部對樣品微調(diào)設(shè)計(jì),降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測試不準(zhǔn)確性
7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求
8.業(yè)內(nèi)*家對達(dá)克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法,*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用
9.軟件對多次測試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析功能
10.業(yè)內(nèi)*家既可以測試鍍層厚度,又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF
2.3 儀器技術(shù)指標(biāo)
1、儀器尺寸:550(W)x480(D)x470(H)mm
2、樣品腔尺寸:500*360*215mm;
3、zui低檢測厚度:0.005um
4、檢測厚度上限,50 - 80um(視材料而定)
5、zui多測試層數(shù):10層
6、zui小測量面積:0.002mm
7、*分辨率:見下面探測系統(tǒng)詳細(xì)參數(shù)說明
8、準(zhǔn)直器:Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片:5種濾光片自動切換
10、CCD觀察:260萬像素高清CCD
11、樣品微動范圍:XY50mm
12、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
13、額定功率:350W
14、重量:約45Kg
15、工作環(huán)境溫度:溫度15—30℃
16、工作環(huán)境相對濕度:≤85%(不結(jié)露)
17、穩(wěn)定性:多次測量重復(fù)性誤差小于0.1%
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