XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線叫X射線熒光(X—Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級 X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理,理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中,有效的元素測量范圍為9號元素 (F)到92號元素(U)。
X射線熒光的物理原理
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內(nèi)的電磁波,其特性通常用能量(單位:千 電子伏特,keV)和波長(單位:nm)描述。
X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行,內(nèi)層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)當(dāng)電子空位。這時(shí)處于能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補(bǔ)相應(yīng)當(dāng)電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個(gè)過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。
X射線的波長
元素的原子受到能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,根據(jù) 莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常數(shù)。
X射線的能量
而根據(jù)量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個(gè)光具有的能量為:
E=hν=h C/λ
式中,E為X射線光子的能量,單位為keV;h為 普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。
因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。
分類
正在加載波長色散型
不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同,因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的,進(jìn)行元素的定性分析。同時(shí)樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射
線強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān),因此測出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。
因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:
波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)
如下圖:
比較
優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度。
f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
缺點(diǎn)
a)難于作分析,故定量分析需要標(biāo)樣。
b)對輕元素的靈敏度要低一些。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
分析
a) X射線用于元素分析,是一種新的分析技術(shù),但在經(jīng)過二十多年的探索以后,現(xiàn)在已*成熟,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域。
b) 每個(gè)元素的特征X射線的強(qiáng)度除與激發(fā)源的能量和強(qiáng)度有關(guān)外,還與這種元素在樣品中的含量有關(guān)。
c) 根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。
XRF分析儀的主要環(huán)境應(yīng)用
過去,對環(huán)境的評估只能依賴于在實(shí)驗(yàn)室對從現(xiàn)場采集并運(yùn)送到實(shí)驗(yàn)室的樣件所做的分析,這種方法既浪費(fèi)金錢又耗用時(shí)間。如今有了便攜式XRF分析儀,檢測人員可以在現(xiàn)場直接對環(huán)境進(jìn)行評估。DELTA手持式XRF分析儀可進(jìn)行經(jīng)濟(jì)、有效、及時(shí)的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析,并快速得出全面的調(diào)查結(jié)論,從而決定所要采取的下一步措施。
一、發(fā)展中危險(xiǎn)的含量有毒金屬
在發(fā)展中的居民區(qū)和娛樂區(qū)可能會發(fā)現(xiàn)危險(xiǎn)的含量鉛、砷、、鉻、鎘及其它有毒金屬。在這些和地區(qū),這些金屬的危險(xiǎn)性可能還不為當(dāng)?shù)厝怂?,或者還沒有施行有關(guān)限制這些金屬的法律法規(guī)。手持式X射線熒光分析儀可快速判斷是否存在這些污染物并辨別其含量,從而可使世界衛(wèi)生倡導(dǎo)組織依據(jù)檢測結(jié)果出臺糾正措施,以幫助發(fā)展中利用當(dāng)?shù)刭Y源,通過安全的工作實(shí)提人們的生活水平,并使這些和地區(qū)得到持續(xù)的發(fā)展。
二、城市周邊地區(qū)的農(nóng)業(yè)及農(nóng)藝學(xué) 隨著世界人口的增長,食物來源的安全性也變得越來越重要。隨著人們對食物安全性的要求不斷提,城市周邊的農(nóng)業(yè)發(fā)展也越來越受到歡迎。但是,在工業(yè)區(qū)和其它城市設(shè)施附近發(fā)展農(nóng)業(yè)會增加農(nóng)作物受到有害物質(zhì)侵害的危險(xiǎn),因?yàn)榉N植莊稼的土壤及用于灌溉的水源可能會有含量的砷、、鎘、鉻、鉛等污染物質(zhì)。DELTA手持式XRF分析儀不僅可以快速探測出這些有毒金屬,還可以確定諸如鈣、鎂、磷、鉀等營養(yǎng)物質(zhì)和肥料的存在。由于DELTAXPLORER GPS-XRF可以在田地里對土壤進(jìn)行密度分析,而且可以在現(xiàn)場得到結(jié)果并進(jìn)行空間模式化,因而這款分析儀已經(jīng)成為發(fā)展精耕細(xì)作式農(nóng)業(yè)的理想工具。
三、危險(xiǎn)的廢料篩檢和可持續(xù)產(chǎn)業(yè)
目前,大多數(shù)行業(yè)都面臨著必須實(shí)施可持續(xù)發(fā)展計(jì)劃的壓力。這個(gè)計(jì)劃有助于降低各個(gè)行業(yè)在制造和包裝產(chǎn)品的過程中對周邊環(huán)境和人們的健康造成的有害影響。各種工業(yè)、工程公司及監(jiān)管機(jī)構(gòu)都可在生產(chǎn)現(xiàn)場使用手持式XRF系統(tǒng)進(jìn)行檢測,以確??焖僮R別出任何重金屬污染物質(zhì),并采取有效的補(bǔ)救措施。
四、社區(qū)與居住區(qū)域的發(fā)展
DELTA可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量,在開發(fā)或整修學(xué)校、社區(qū)中心、住宅、游樂場及運(yùn)動場以前,這款分析儀是有助于保障環(huán)境安全的重要工具。如果要在以前是垃圾填埋場、工業(yè)場址、果園、飼養(yǎng)場、閑置的污染土地以及其它會發(fā)現(xiàn)含量有毒金屬的地區(qū)開發(fā)房地產(chǎn),DELTA分析儀無疑是一件*的工具。此外,在對建筑物及舊房屋進(jìn)行翻修、重建、恢復(fù)及涂漆的過程中,DELTA可以迅速探測出土壤和塵埃、建筑物表面、含鉛顏料中的鉛(Pb)元素,從而有助于減少在分析工程是否符合環(huán)境管理規(guī)定的過程中所耗用的資金和時(shí)間。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。