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偏光顯微鏡分析是根據材料在偏振光下所呈現(xiàn)的光學特性利用偏光顯微鏡對材料進行定性、定量分析及顯微結構研究。是巖相分析常用的分析技術。偏光顯微鏡在光學顯微鏡的光學系統(tǒng)中插入了起偏振鏡和檢偏振器，用以檢查樣品的各向異性和雙折射性的顯微鏡。
偏光顯微鏡的操作步驟：
(1)按“顯微鏡觀察玻片標本時的注意事項”所述的有關操作步驟和方法，分別用反光鏡的平面鏡和凹面鏡對光。努力使視野中呈現(xiàn)一個處處一樣亮的正目形。同時比較平面鏡與凹面鏡的反光能力的強弱。
(2)任選一種根或莖的切片標本，用鋼筆在其蓋玻片表面涂一直徑約為1 mm的圓點，按前面所述的有關操作步驟安放和移動切片標本，使這一圓點正對低倍鏡。然后用低倍鏡檢查。若發(fā)現(xiàn)視野中未見有目點區(qū)域，則調整圓點的位置，直至它進人了視野，這時總結經驗教訓，并隨意移開圓點，重新使之正對低倍鏡。爭取一次對準。
(3)將偏光顯微鏡聚光鏡升至其頂面與載物臺表面幾乎齊平處停下，然后一面向左旋撥光圈的小柄，一面觀察視野里照明度的變化，直至小柄到達終點。再一面向右旋撥光圈的上柄，一面觀察視野里照明度的變化，直至小柄到達終點。
(4)將光圈擴至大后停下，然后一面級級下降聚光鏡，一面觀察視野中明度的變化，直至偏光顯微鏡聚光鏡降至其低位。再一面級緩上升聚光鏡。一面觀察視野中照明度變化，直至聚光鏡升至與載物臺兒乎齊平為止。
(5)調出偏光顯微鏡觀察切片標本的焦距，調好后試探一下，將低倍物鏡降至什么程度，才能使標本的影像消失。
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