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光纖光譜儀通常采用光纖作為信號耦合器件，將被測光耦合到光譜儀中進行光譜分析。由于光纖的方便性，用戶可以非常靈活的搭建光譜采集系統(tǒng)。
光纖光譜儀以其檢測精度高、速度快等優(yōu)點，已成為光譜測量學中使用的重要測量儀器，被廣泛應用于農業(yè)、生物、化學、地質、食品安全、色度計算、環(huán)境檢測、醫(yī)藥衛(wèi)生、LED檢測、半導體工業(yè)、石油化工等領域。
1、發(fā)射光譜測量
發(fā)射光譜測量可以用不同的實驗布局和波長范圍來實現(xiàn)，還要用到余弦校正器或積分球。發(fā)射光譜測量可以在紫外/可見和可見/近紅外波長范圍內測量。
對于發(fā)射光譜的測量，光譜儀可以配置成波長范圍從200-400nm或350-1100nm，或組合起來實現(xiàn)紫外/可見200-1100nm，并可以在定標實驗室里進行輻射定標。定標后的實驗布局不能改變，如光纖和勻光器都不能更改。
2、發(fā)光二極管(LED)測量
LED測量系統(tǒng)用于LED光源的光譜強度及顏色指標測量。較簡單而且迅速地測量LED的整個光通量的方法就是使用一個積分球，并把它連接到一個光譜儀上。該系統(tǒng)可以用鹵素燈進行定標(LS-1-CAL-INT)，然后用從測量到的光譜分布計算出相關參數(shù)，并實現(xiàn)輻射量的測量。
3、薄膜厚度測量
光學的膜厚測量系統(tǒng)基于白光干涉測量原理，可以測量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測量在半導體晶片生長過程中經常被用到，因為等離子體刻蝕和淀積過程需要監(jiān)控；其它應用如：在金屬和玻璃材料基底上鍍透明光學膜層也需要測量膜層厚度。
4、透射吸收測量
透射吸收測量用于測定液體或氣體中介質對作用光的吸收，依據比耳定律，吸光度正比于摩爾吸收率、光程和樣品介質濃度。
5、反射測量
反射測量方式分為鏡面反射和漫反射測量，在實際測量中，可以采用不同的參考白板和測量角度來進行區(qū)分。反射測量用于測定樣品的化學成分及表面顏色相關信息。
6、激光測量
根據激光光譜的特征，檢測系統(tǒng)配置高分辨率的光纖光譜儀，同時可用積分球或余弦校正器來衰減入射光，以避免CCD探測器的飽和。
7、熒光測量
熒光測量因其光譜信號特別弱，因此需要一個高靈敏的探測器及一個高效率的濾光片，將樣品激發(fā)出的微弱信號光和高強度的激發(fā)光區(qū)別開來。
8、氧含量測量
氧含量是通過光纖探頭熒光團的熒光強度的衰減來進行測量，應用熒光淬滅原理可以測量溶解氧或氣態(tài)氧的分壓，從而探測出環(huán)境的氧含量。
9、拉曼光譜測量
拉曼光譜與紅外吸收光譜同為研究物質的分子振動能級從而分析物質的組成，但相對于紅外吸收光譜，拉曼光譜的譜線較為簡單且具有*性，而且被測物不需進行前處理，因此在判斷物質組成成分時有明顯的優(yōu)勢。拉曼光譜測量系統(tǒng)特別適用于反應過程監(jiān)控、產品識別、遙感及介質中高散射粒子的判定。
10、激光誘導擊穿光譜(LIBS)測量
LIBS是一種用于固體、液體及氣體中進行實時、定性及半定量的光譜元素分析技術，其工作原理是高強度的脈沖激光聚焦在樣品表面，脈寬為10ns的激光脈沖蒸發(fā)樣品產生等離子體，隨著等離子體的冷卻，處于激發(fā)態(tài)的原子發(fā)射出元素的特征光譜，這個光譜被光纖探頭收集并傳送到光譜儀，通過光譜分析軟件中預存的樣品特征光譜進行比對分析。
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