電子顯微鏡簡述:
1、發(fā)展歷史:
掃描電子顯微鏡(SEM)于1935年起源于Max Knoll。該設(shè)計在接下來的幾年中由Manfred von Ardenne進(jìn)一步開發(fā)。 盡管有這些早期的貢獻(xiàn),查爾斯·奧特利教授還是*為掃描電子顯微鏡之父。 在1950年代和1960年代,劍橋大學(xué)的Oatley教授開發(fā)并完善了這項技術(shù),使其成為可商業(yè)化的儀器。
SEM在色譜柱的頂部裝有電子槍,該電子槍以熱電子方式產(chǎn)生電子束。當(dāng)該光束沿色譜柱向下傳播時,線圈將作為透鏡進(jìn)行調(diào)節(jié),這些透鏡會聚焦光束并使光束在真空室中的樣品上形成光柵。 當(dāng)電子束掃描樣品時,二次電子從樣品中發(fā)射出來。 腔室內(nèi)的探測器收集這些電子以產(chǎn)生樣品圖像。
與光學(xué)顯微鏡不同,SEM不受可見光衍射極限的限制。這使研究人員能夠以數(shù)十萬倍的倍率成像。 該技術(shù)還保持了*的景深,使用戶可以清楚地分辨出樣品的表面特征。
除了主要優(yōu)點外,掃描電子顯微鏡還被證明是一種通用平臺,可增加簡單成像以外的功能。 可以用場發(fā)射槍(FEG)替代或補充熱電子槍,這樣可以大幅提高SEM的空間分辨率。 SEM可以配備聚焦離子束(FIB)功能,從而進(jìn)行離子束研磨和沉積。 能量色散X射線光譜儀(EDS或EDX)允許用戶使用電子束撞擊樣品時產(chǎn)生的X射線分析樣品的化學(xué)成分。 通過在腔室添加探針,用戶可以分析樣品的導(dǎo)電率。 SEM平臺也可以裝配用于光刻和微加工應(yīng)用。
2、典型應(yīng)用:
•數(shù)據(jù)存儲
•能源研究
•故障分析
•材料科學(xué)
•醫(yī)療器械
•采礦與地質(zhì)學(xué)
•藥物研究
•半導(dǎo)體研究
電子顯微鏡的環(huán)境控制:
電子顯微鏡(比如SEM)用于以超高放大倍數(shù)觀察極小的特征尺寸,容易受到環(huán)境干擾的影響。SEM是相對大型的儀器,通常具有內(nèi)置被動振動隔離機制。雖然它們對高頻振動相對不敏感,但是SEM仍然容易受到低頻振動的影響,尤其是建筑物的振動。SEM制造商制定了儀器正常運行的大可接受振動、電磁干擾和聲音噪聲標(biāo)準(zhǔn)。每個儀器相關(guān)的安裝要求文件中都包含了這些標(biāo)準(zhǔn)。SEM制造商在安裝前通常需要對振動測量設(shè)備進(jìn)行現(xiàn)場勘測以確認(rèn)安裝現(xiàn)場是否符合規(guī)范,如不符合,客戶則需要簽署豁免書,表明儀器可能無法達(dá)到性能。因此,為了獲得準(zhǔn)確的圖像數(shù)據(jù),將SEM放置在建筑物較高樓層或地震振動級別明顯的區(qū)域時,通常需要輔助隔振系統(tǒng)。而主動振動控制系統(tǒng)可以說是這種情況下的解決方案。
此外,由于成像技術(shù)利用了電磁力電子,顯微鏡對EMI也很敏感。所以在安裝時,應(yīng)注意不要將SEM放在靠近大量EMI來源的地方,例如移動車輛、電梯或HVAC機械。否則,如果存在過多的EMI時,用戶將需要在SEM周圍安裝EMI消除系統(tǒng)或者構(gòu)建一個大型EMI屏蔽層。
電子顯微鏡的高級解決方案:
電子顯微鏡將樣本圖像放大一百萬X倍以上需要的數(shù)據(jù)質(zhì)量和的環(huán)境穩(wěn)定性。 二十多年來,環(huán)境穩(wěn)定性一直是Herzan的專長領(lǐng)域,為無數(shù)應(yīng)用(尤其是電子顯微鏡)提供了振動、聲學(xué)和EMI隔離解決方案。其產(chǎn)品涵蓋了電子顯微鏡適用的所有形式的環(huán)境隔離系統(tǒng)。一直以來,Herzan希望與研究人員合作,促進(jìn)數(shù)據(jù)采集發(fā)展。
1、解決方案:模塊化/面板式隔音箱 (問題:聲學(xué)噪音)
Herzan精心闡述了每個電子顯微鏡隔音箱的設(shè)計,以代表每種應(yīng)用的具體需求。 結(jié)合每種實驗室環(huán)境*的可訪問性和形狀適應(yīng)性,Herzan的模塊化和面板式隔音箱為用戶提供物超所值的解決方案。
2、解決方案:AVI系列 (問題:振動噪音)
AVI系列是一款低調(diào),模塊化,主動隔振系統(tǒng),能夠在所有六個自由度上實現(xiàn)亞赫茲振動隔離。 AVI系列能夠提供一致且可靠的亞赫茲振動隔離性能,是在環(huán)境中遭遇低頻振動噪聲的所有電子顯微鏡的理想解決方案。
3、解決方案:Spicer系統(tǒng) (問題:EMI噪音)
Spicer磁場消除系統(tǒng)可為高分辨率電子顯微鏡提供經(jīng)濟高效,免維護(hù)的環(huán)境磁場屏蔽。 Spicer系統(tǒng)為交流和直流電場提供了消除效果,可在較寬的頻率范圍內(nèi)顯著降低EMI。
4、其他解決方案:
•現(xiàn)場調(diào)查分析設(shè)備
•電子顯微鏡起重設(shè)備
•假底平臺
•AVI系列的低頻隔振升級(LFS系統(tǒng))
SEM圖像對比圖:
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