常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么？

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計數(shù)器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法

各種方法的優(yōu)缺點

篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點：速度慢、代表性差，無法測超細顆粒。

沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。 缺點：測試時間較長。

電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。 缺點：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴格的導電特性。

電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。

超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。 缺點：分辨率較低。

透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。 缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。 缺點：結(jié)果受分布模型影響較大。