圖1：Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，右側(cè)有紫外線照射源，樣品倉中有可加熱的ATR附件；

圖1所示為VERTEX80光譜儀，樣品倉中帶有可加熱ATR附件，外部紫外線源的光纖通過ATR附件上的可調(diào)支架固定。另外，Bruker的鉑金ATR，即單次反射的金剛石ATR，它也可以用于測試遠紅外范圍。

圖2：紫外輻照Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，光源位于右側(cè)，樣品倉內(nèi)透射附件；

除ATR技術(shù)外，透射技術(shù)也可作為分析工具。Bruker光學(xué)透射附件A043-N/Q，其帶有水平樣品支架，如圖2所示。樣品支架的高度可以調(diào)整，紫外線光纖支架的高度也可以調(diào)整。

OPUS光譜學(xué)軟件用于數(shù)據(jù)采集，附加軟件包OPUS/3D用于數(shù)據(jù)可視化和數(shù)據(jù)評估。圖3顯示了OPUS軟件中用于顯示時間分辨測量數(shù)據(jù)的3D圖。

圖3：OPUS光譜學(xué)軟件中時間分辨快速掃描測量結(jié)果。左上角區(qū)域顯示了FTIR光譜在反應(yīng)時間過程中的變化，如3D圖所示。右上角的區(qū)域顯示了FTIR光譜中C-O和C-H鍵的峰值高度與時間的關(guān)系，用于監(jiān)控反應(yīng)速率。右下角區(qū)域顯示了FTIR光譜圖。

圖4：C=C雙鍵處的C-O-C基團（綠色曲線）以及C-H基團（粉色曲線）的強度隨時間的變化

圖5：快速掃描測量FTIR光譜