利用植物冠層測(cè)試儀研究植物冠層與產(chǎn)量的關(guān)系
植物冠層分析儀小巧便攜,是現(xiàn)代大田種植和設(shè)施農(nóng)業(yè)中監(jiān)測(cè)作物養(yǎng)分狀況和冠層結(jié)構(gòu)分析的重要儀器之一。
植物冠層測(cè)試儀主要由傳感器和控制器組成,通過(guò)無(wú)線傳輸數(shù)據(jù)。傳感器是獲取信息的重要部件,是測(cè)量的關(guān)鍵。它包括光學(xué)部分和電路部分。光學(xué)部分包括光學(xué)通道和光電探測(cè)器。光學(xué)通道用于測(cè)量太陽(yáng)輻射和作物冠層的反射光。電路部分由電源、放大單元和無(wú)線傳輸模塊組成。
太陽(yáng)位置和強(qiáng)度的日變化,加上植物結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性,將導(dǎo)致植物冠層中高度可變和動(dòng)態(tài)的光模式,并通過(guò)光合作用響應(yīng)光強(qiáng)變化的復(fù)雜方式影響生產(chǎn)力。目前用于表征光動(dòng)力的方法(如光線追蹤)可以產(chǎn)生具有優(yōu)異時(shí)空分辨率的數(shù)據(jù),但計(jì)算量大,獲得的數(shù)據(jù)復(fù)雜且高維。因此,有必要開(kāi)發(fā)一個(gè)更經(jīng)濟(jì)的模型來(lái)匯總數(shù)據(jù)并模擬一天內(nèi)的真實(shí)光照模式。
作物的一個(gè)重要組成部分是冠層結(jié)構(gòu),冠層結(jié)構(gòu)與太陽(yáng)能的截留、降雨的截留以及冠層內(nèi)部小氣候的形成密切相關(guān)。因此,在現(xiàn)代農(nóng)業(yè)研究中,利用作物冠層測(cè)試儀研究作物冠層結(jié)構(gòu)特征已成為當(dāng)前農(nóng)業(yè)的重要課題,也是科學(xué)栽培果樹(shù)的重要依據(jù)。通過(guò)作物冠層測(cè)試儀發(fā)現(xiàn),冠層結(jié)構(gòu)之所以能影響作物產(chǎn)量和品質(zhì),主要是因?yàn)榱己玫墓趯咏Y(jié)構(gòu)能提高作物葉片的光合效率,有利于作物積累能量,促進(jìn)玉米的生長(zhǎng)發(fā)育。
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