紅外一氧化碳?xì)怏w分析儀原理是利用紅外線進(jìn)行分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同,動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣,就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)
式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;
I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;
K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)
對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀,其測(cè)量組分已定,即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出:通過測(cè)量輻射能量的衰減I,就可確定待分析組分的濃度C了。
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