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CPS納米粒度儀是基于差示沉淀法對顆粒粒度進(jìn)行測量和分析。樣品被注入到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉降，由檢測器記錄不同顆粒的沉降時(shí)間。由于液體為具有多層密度差的梯度液，可將同時(shí)沉降的所有粒子做更精細(xì)的排列分層沉降。再利于激光光源及檢測器，來檢測小至納米級的粒子，這樣達(dá)到納米至微米級粒徑分布分析的檢測。并獲得高精確度及高解析度的分析結(jié)果。
CPS納米粒度儀使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質(zhì)里分離開。顆粒在的沉降穩(wěn)定過程是由于液體介質(zhì)中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。該產(chǎn)品具有多樣化的功能，可以監(jiān)測動(dòng)力學(xué)過程；提供標(biāo)準(zhǔn)的體積和數(shù)量分布的結(jié)果。具有較高的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性?？梢蕴峁╊w粒系統(tǒng)粒徑、形狀和濃度等方面的總體信息。
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