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納米粒度儀原理簡介：
APS從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
當(dāng)聲音穿越泥漿或膠體時(shí)，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1- 100MHz的頻率范圍內(nèi)非常準(zhǔn)確地測量聲音衰減。因?yàn)槁曇舸┻^所有的物質(zhì)媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問題，因?yàn)樵跍y量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。
APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費(fèi)時(shí)，容易出錯(cuò)，并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡單地倒，或者連續(xù)泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。
計(jì)算詳細(xì)PSD數(shù)據(jù)的技術(shù)，不需要假設(shè)PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測PSD是單峰、雙峰、對數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可靠。
專門的APS硬件設(shè)計(jì)簡化了操作，同時(shí)減少維護(hù)。這個(gè)設(shè)計(jì)適合研發(fā)以及重復(fù)質(zhì)量控制測量。APS也適合過程在線操作。
常用的粒度測量方法：
（1）篩分法
（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
（3）電阻法（庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器）
（4）顯微鏡（圖像）法
（5）電鏡法
（6）超聲波法
（7）透氣法
（8）激光衍射法
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