LCR測試儀的功能與正確的使用方法?
用LCR測試儀來測量零部件的參數(shù)時(shí),其關(guān)鍵問題在于測量誤差。首先是LCR測試儀本身的內(nèi)部誤差,還存在各種各樣的原因,而與試樣的連接所引起的誤差,就是其中之一。由于LCR測試儀的型號不同,可能的連接方法也會有區(qū)別,在此我們整理一下五種連接方法的各自特點(diǎn)。一般來說,連接方法越麻煩,越能準(zhǔn)確地進(jìn)行測量。
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。 半導(dǎo)體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。 其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。 介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。 磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。 半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。 液晶材料:液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。廣泛的測量對象
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