GNR/AreX D殘余奧氏體檢測儀應用-上海如慶電子科技有限公司根據(jù)客戶不同需求提供不同的解決方案,
GNR/AreX D殘余奧氏體檢測儀應用儀器簡介
在許多工業(yè)生產加工過程中,對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格,測量其含量,對于鋼鐵熱處理過程中產品特性和質量的控制有重大意義。因為化學蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和度較低的情況,所以無法做到工業(yè)生產中對殘余奧氏體的測量,而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量,故ASTM頒布E975標準方法:X射線法測量近無規(guī)結晶取向鋼中殘余奧氏體的含量,AreX D 正是根據(jù)此標準設計開發(fā)。
鋼構件加工后的強度、耐久性和尺寸穩(wěn)定性影響構件在使用中的可靠性。殘余奧氏體含量對這些性能至關重要。材料試驗可以量化鋼構件中殘留奧氏體的數(shù)量。x射線衍射被認為是分析殘余奧氏體水平準確的技術,它能夠檢測少量的殘余奧氏體。我們使用自己的TEC 4000 x射線衍射系統(tǒng)和MAX便攜式解決方案與無心衍射儀,可以在實驗室或生產環(huán)境中測量大型和不規(guī)則形狀的零件。
臺式殘余奧氏體分析儀主要特點
1、結構緊湊,節(jié)省實驗室空間,風冷式X射線管;
2、采用穩(wěn)定的微聚焦50瓦Mo靶射線管,Zr濾光片;
3、配備高像素USB攝像頭,樣品定位方便、;
4、具有用于X射線安全保護的連鎖裝置;
5、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強度;
6、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響;
7、軟件界面設計簡潔友好,操作簡便;
8、快速測量,測量時間小于3 分鐘。
使用步驟
1、準備樣品:將待測材料制成標準試樣,并進行研磨和拋光處理,確保表面平整光滑。
2、安裝樣品:打開儀器蓋子,將樣品放置在樣品架上,確保樣品與探頭相切并貼合緊密。
3、設置參數(shù):根據(jù)待測材料的類型和處理要求,設置好溫度、時間、冷卻速率等參數(shù)。
4、運行測試:按下啟動按鈕,儀器開始運行測試程序,加熱樣品到規(guī)定溫度并保持一段時間后,以設定速率冷卻到室溫。
5、獲取數(shù)據(jù):測試結束后,取出試樣并用金相顯微鏡觀察,在對應的視場位置記錄下亮相和暗相區(qū)域的圖像和比例值。
6、分析結果:利用計算機軟件對獲取的數(shù)據(jù)進行處理和分析,得出樣品中殘余奧氏體的含量和形態(tài)等信息。
7、清潔儀器:測試結束后,關掉電源并清潔儀器表面和內部,確保儀器的正常使用壽命和準確性。
上海如慶電子科技有限公司是一家主要從事儀器儀表開發(fā)、研制、銷售服務于一體的多元化的高科技企業(yè),熟悉國內外上千家儀研所及制造廠商的上萬個品種的測量儀器及儀表。并且與國外內著名儀表生產廠商有著廣泛的良好的合作基礎。并作為美國GE、磁通、派克、泰克、福祿克、安捷倫;德國歐普仕、尼克斯、MR、芬德;日本NF、日置、加野;中國臺灣固緯、路昌、泰仕、衡欣、群特;香港華誼、CEM、?,敚簧浅?、多浦樂、中科、友聯(lián)、同惠、安柏、時代等公司的中國銷售。在同行領域中,我公司以科學管理的手段,優(yōu)良的品牌、優(yōu)質的產品以及優(yōu)秀的售后服務倍受廣大客戶的青睞。
公司主要銷售的儀器有:超聲波探傷儀、無損檢測配件、紅外熱像儀、頻譜分析儀、數(shù)字示波器、信號源、電子負載、電源、波形記錄儀、電能質量分析儀、功率分析儀、兆歐表、鉗形表、紅外測溫儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、電子天平、聲級計、測振儀、轉速表、頻閃儀、漏點儀、測溫儀、煙氣分析儀,氣體檢測儀風速儀、溫濕度儀、粗糙度儀、硬度計、照度計,推拉力計、扭力計等測試儀器。尤其是超聲波探傷儀、紅外熱像儀、推拉力計、數(shù)字示波器、頻譜分析儀、硬度計
公司主要銷售的儀器有:超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強劑、密度計、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機、射線燈、個人劑量報警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測定管、直型測定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場強度計、白光照度計、紫外照度計、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護背心、鉛衣、像質計、無損檢測配件、
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