半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用及對(duì)應(yīng)優(yōu)勢(shì)
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備,在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測(cè)試、電容電壓 (CV) 測(cè)試、脈沖式IV測(cè)試、任意線性波形發(fā)生與測(cè)量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測(cè)試能力。幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測(cè)試系統(tǒng)中完成。
產(chǎn)品應(yīng)用:
新型材料與器件測(cè)試
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試
半導(dǎo)體器件超短脈沖測(cè)試
半導(dǎo)體器件無(wú)損探傷與測(cè)試
光電器件和微電子機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試
半導(dǎo)體器件超低頻噪聲領(lǐng)域測(cè)試
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
一體化設(shè)備:
單機(jī)可采集高精度IV、CV、脈沖IV和瞬態(tài)IV采樣及1/f噪聲測(cè)試所有參數(shù)。
無(wú)需切換電纜或探頭連接即可提供完整的低頻參數(shù)提取功能。
寬電壓電流輸出范圍、高精度:
支持高速采樣時(shí)域信號(hào)采集和任意線性波形生成模塊化架構(gòu)。
支持靈活、可擴(kuò)展的測(cè)試配置。
簡(jiǎn)單易用:
內(nèi)置專業(yè)LabExpress軟件,用戶界面友好。
測(cè)量、分析功能強(qiáng)大。
無(wú)需復(fù)雜編程步驟即可同步產(chǎn)生電壓并跟蹤波形。
可用作9812DX內(nèi)部SMU模塊:
無(wú)縫集成9812D/DX系統(tǒng)及其N(xiāo)oiseProPlus軟件,可提高噪聲測(cè)試速度。
相關(guān)產(chǎn)品
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