MPR200-PAB-ZP40 αβ表面污染測量儀應(yīng)用

MPR200-PAB-ZP40a8表面污染測量儀

MPR200-PAB-ZP40 表面污染測量儀由MPR200主機(jī)+PAB-ZP40a、β表面污染探頭組成，可對分別對a、B射線進(jìn)行測量，報(bào)警閥值和測量時間連續(xù)可調(diào)。

MPR200主機(jī)

功能特點(diǎn)

自動識別各種外接探頭

OLED顯示，無需背光

電容式觸摸按鍵

USB數(shù)據(jù)通訊

數(shù)抵管理軟件

可存儲12000條數(shù)據(jù)

PAB-ZP40 閃爍探頭+ 探 測 器:ZnS(Ag)+ 塑料閃爍體

*測量范圍:0.01 cps-9999 cps

0.001 Bgkm:-. 999.99 kBg/em?

*有效面積:40 cm2

*數(shù)斯重復(fù)性:<20%

*相對固有誤差:St25

+本底計(jì)數(shù):a.≤0.03 cps:

p. ≤3 cps

*探測下限:a.≤0.04 Bgkm*pPu，10s，置信度95%，環(huán)境本底02uGyh)

p，≤0.4Bqkm(srmY，10s，置信度95%，環(huán)境本底02mGyh)+探測效率:a,≥30%(2Pu，2元，距探測器5 mm，保護(hù)網(wǎng)格擋率<30%)

B，230%(20Sr-0Y，2元，距探測器10mm，保護(hù)網(wǎng)格擋率<30%)

。申道比:a進(jìn)入p道<3%，p進(jìn)入a道<1%

*尺寸:90mmx90mmx230mm

+重 量:900g