| 試驗(yàn)項(xiàng)目 | 試驗(yàn)條件 | 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) |
| 高溫／低溫工作 | -10℃ / 55℃ | 手機(jī)開(kāi)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。2小時(shí)后，進(jìn)行電性能檢查。 | 手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。 |
| 中溫高濕 | +40℃, 93%RH | 手機(jī)開(kāi)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。48小時(shí)后，進(jìn)行電性能檢查。 | 手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。 |
| 高溫/低溫存儲(chǔ) | -30℃ / +70℃ | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。24小時(shí)后，取出，并放置2小時(shí)，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行電性能檢查。 | 手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。 |
| 高溫高濕 | 60℃，90%RH | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱，60小時(shí)后取出，恢復(fù)4小時(shí)，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)變形。 |
| 鹽霧測(cè)試 | 35℃, 5%的Nacl溶液 | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)，用繩子懸掛起來(lái)。實(shí)驗(yàn)周期是48個(gè)小時(shí)。 取出樣機(jī)，放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥，對(duì)其進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異?，F(xiàn)象。 |
| 溫度沖擊 | -30℃ （45分鐘） +70℃ （45分鐘） | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)，高溫低溫循環(huán)27次。取出樣機(jī)，恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)異變。 |
| 振動(dòng) | 振幅：0.38mm; 振頻：10~30Hz; 振幅：0.19mm; 振頻：30~55Hz; | 手機(jī)開(kāi)機(jī)放入振動(dòng)箱。X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)之后取出，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 振動(dòng)前5分鐘內(nèi)手機(jī)內(nèi)存和設(shè)置沒(méi)有丟失現(xiàn)象，后55分鐘可以出現(xiàn)關(guān)機(jī)現(xiàn)象， 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，尤其是顯示和SPL，外殼無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷，內(nèi)部組件無(wú)脫落。 |
| 跌落試驗(yàn) | 1.5米高 | 手機(jī)關(guān)機(jī)，6個(gè)面，每個(gè)面跌落一次，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)變形。 |
| 7cm高，20,000次 | 手機(jī)關(guān)機(jī)，在一個(gè)混凝土臺(tái)面上低位跌落20,000次，一個(gè)產(chǎn)品正面朝下跌落，一個(gè)產(chǎn)品背面朝下跌落，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | |
| -10℃, 1.2米高 | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入低溫跌落試驗(yàn)箱，2小時(shí)后，進(jìn)行跌落試驗(yàn)，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | |
| 砂塵測(cè)試 | 15~35℃, 45~75%RH條件下，灰塵濃度：6±1g/m3，氣流速度2m/s | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入耐塵試驗(yàn)箱，每間隔59分鐘吹塵1次，時(shí)間1分鐘，4天后取出，并放置2小時(shí)，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行電性能、機(jī)械性能的檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)異變。 |
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