IEC61646-10.1目視檢查（Visual inspection procedure）
目的：檢查模塊內(nèi)任何目視缺陷。

IEC61646-10.2標(biāo)準(zhǔn)測試條件下之性能（Performance at STC）
目的：用自然光或是*仿真器，在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下（電池溫度：25±2℃、照射度：1000wm^-2、標(biāo)準(zhǔn)太陽光譜照射分布符合IEC891規(guī)定），測試模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

IEC61646-10.3絕緣測試（Insulation test）
目的：欲測試模塊中之載流零件與模塊邊框間是否有良好之絕緣

IEC61646-10.4溫度系數(shù)量測（Measurement of temperature coefficients） 
目的：由模塊測試中測試其電流溫度系數(shù)及電壓溫度系數(shù)，此測定之溫度系數(shù)僅在測試中所使用之照射度下有效，對于線性模塊，在此照射度±30%內(nèi)是有效的。IEC891規(guī)定了從具有代表性一批中之單體電池測量這些系數(shù)，本程序是對該標(biāo)準(zhǔn)之補(bǔ)充。薄膜太陽能電池模塊之www.oven.cc溫度系數(shù)依賴于召涉及模塊所經(jīng)歷之熱處理過程，當(dāng)涉及溫度系數(shù)時(shí)，熱測試時(shí)之條件及照射結(jié)果等過程情況均應(yīng)標(biāo)明。

IEC61646-10.5標(biāo)稱操作電池溫度[NOCT]之量測（Measurement of nominal operating cell temperature）
目的：測試模塊之NOCT

IEC61646-10.6 NOCT下之性能（Performance at NOCT）
目的：當(dāng)標(biāo)稱操作電池溫度與照射度為800Wm^-2時(shí)，在標(biāo)準(zhǔn)太陽光譜照射分布條件下，確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

IEC61646-10.7低照射度下之性能（Performance at low irradiance）
目的：在25℃與照射度為200Wm^-2（用適當(dāng)之基準(zhǔn)電池測定）之自然光或A類仿真器，確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

IEC61646-10.8戶外曝曬測試（Outdoor exposure）
目的：對于模塊暴露于室外情況下之抵抗力做出不知評估，并顯示由實(shí)驗(yàn)是測試所無法偵測出之任何劣化之影響。

IEC61646-10.9熱班耐久測試（Hot-spot test）
目的：確定模塊承受熱班加熱效應(yīng)之能力，例如封裝材料老化、電池裂紋、內(nèi)部連結(jié)失效，局部被遮光或污邊均會引起這種缺陷。

 IEC61646-10.10 UV測試（UV test）
目的：確認(rèn)模塊承受紫外線（UV）之照射之能力，新紫外線測試在IEC1345中描述，如有必要在進(jìn)行該測試前模塊應(yīng)進(jìn)行光暴露。

IEC61646-10.11熱循環(huán)測試（Thermal cycling）
目的：確認(rèn)模塊抵抗由于溫度之重復(fù)變化所產(chǎn)生之熱不均勻性，疲勞及其它應(yīng)力之能力。在接收該測試之前，模塊應(yīng)進(jìn)行退火。[I-V測試前]是指退火后之測試，注意在進(jìn)行zui后I-V測試前，不要將模塊暴露于光照下。

試驗(yàn)要求：
a. 整個(gè)測試過程中，監(jiān)測每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
b. 監(jiān)測每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性
c. 整個(gè)測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，并監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效（測試過程中無間歇開路或接地失效）。
d..絕緣電阻需符合如初步量測之相同要求

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目的：測試模塊抵抗在高溫和高濕下，隨后之零下溫度之影響力，這并不是熱沖擊測試，在接收該測試前，模塊應(yīng)進(jìn)行退火，并經(jīng)受熱循環(huán)試驗(yàn)，[[I-V測試前]指的是熱循環(huán)后測試，注意在zui后I-V測試前，不要將模塊暴露于光兆下。

試驗(yàn)要求：
a.整個(gè)測試過程中，監(jiān)測每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
b.監(jiān)測每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性
c.整個(gè)測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，并監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效（測試過程中無間歇開路或接地失效）。
d.絕緣電阻需符合如初步量測之相同要求

IEC61646-10.15 扭曲測試（Twist Test）
目的：檢測模塊安裝于非結(jié)構(gòu)上可能造成的問題

IEC61646-10.16 機(jī)械負(fù)荷測試（Mechanical load test）
目的：本測試之目的是測定模塊抵抗風(fēng)、雪、冰或靜負(fù)荷之能力

IEC61646-10.17 冰雹測試（Hail test）
目的：欲驗(yàn)證模塊有抵抗冰雹之沖擊能力

IEC61646-10.18光暴露測試（Light soaking）
目的：通過仿真太陽照射之方法，穩(wěn)定薄膜模塊之電性能

IEC61646-10.19退火測試（Annealing）
目的：在驗(yàn)證測試前，將薄膜模塊退火，如不退火，在后續(xù)程序測試過程中之加熱可能掩蓋其它原因引起之衰減。