E+H雷達物位計產(chǎn)品分類及工作原理
E+H雷達物位計工作原理微波物位計工作方式類似雷達：向被測目標發(fā)射微波，由目標反射的回波返回發(fā)射器被接收，與發(fā)射波進行比較，確定目標存在并計算出發(fā)射器到目標的距離。
E+H雷達物位計應(yīng)用領(lǐng)域現(xiàn)今物位測量領(lǐng)域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內(nèi)的充滿粉塵和擾動的加料狀態(tài)下的料倉。相關(guān)技術(shù)的儀表例如電容或?qū)Рɡ走_TDR在放料時物位下降時會受到很強的張力負載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經(jīng)常有埋錘的問題，需要經(jīng)常維修，大多數(shù)其他機械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統(tǒng)的能力。高頻的調(diào)頻雷達技術(shù)尤其適合這種大型固體料倉的物位測量！
現(xiàn)今的高頻雷達一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調(diào)頻連續(xù)波微波物位計發(fā)射和接受信號是同時的，相同時間內(nèi)發(fā)射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現(xiàn)象。因此固體測量中高頻的調(diào)頻雷達能提供準確、可靠的測量，并在例如化工行業(yè)中的PP粉末、PE粉末等介質(zhì)中也有良好應(yīng)用。但由于技術(shù)限制，現(xiàn)今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。
也有使用5.8GHz ~ 10GHz的低頻雷達測量固體，但由于其較低的頻率、較長的波長其發(fā)射波不容易被漫反射，在高粉塵工況下會導(dǎo)致很多的二次或多次回波，干擾和噪聲很大，因此固體粉料測量中逐漸被淘汰。
E+H雷達物位計產(chǎn)品分類及工作原理
E+H雷達物位計分類
雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產(chǎn)品，主要分為雷達物位計和導(dǎo)波雷達物位計。
雷達物位計
雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和的測量。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應(yīng)用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
導(dǎo)波雷達物位計
導(dǎo)波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質(zhì)后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調(diào)整，從而節(jié)省了大量調(diào)試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應(yīng)現(xiàn)場的應(yīng)用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質(zhì)特性變化的影響，被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。粘附：沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。容器內(nèi)安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內(nèi)安裝物的影響，不需要特殊調(diào)試?？梢蕴峁┎煌问降奶筋^用于不同應(yīng)用：纜式，用于測量液體介質(zhì)或重量大的固體介質(zhì)，量程可達60米；棒式，用于測量液體介質(zhì)或重量輕的固體介質(zhì)，量程可達6米；同軸套管，用于測量低黏度的介質(zhì)，不受過程條件的影響，量程可達6米。