MC-2000A型涂（鍍）層測(cè)厚儀使用方法 

1.開機(jī)：先取開探頭線插在儀器上，（插拔探頭時(shí)，請(qǐng)抓住探頭線上的接插件部位插拔，不要直接抓住探頭線，以免損壞探頭。）然后按動(dòng)“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場(chǎng)的距離保持10cm以上)開機(jī)聽到蜂鳴聲后儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，可以直接進(jìn)行測(cè)量。如果測(cè)量數(shù)據(jù)偏差較大，可以進(jìn)行校準(zhǔn)后再測(cè)量。

測(cè)量時(shí)要注意測(cè)量指示,箭頭消失后才能再次測(cè)量，如右圖

    2.校準(zhǔn)：本儀器分為系統(tǒng)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和鐵基校準(zhǔn)三種。在一般情況下只需進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)即可進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。當(dāng)儀器鐵基與被測(cè)件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時(shí)，可以進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)以保證測(cè)量度。

(1) 鐵基校準(zhǔn)（零點(diǎn)校準(zhǔn)）

儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了保證測(cè)量的性，可以在測(cè)量測(cè)試件之前*行鐵基校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)方法：在儀器開機(jī)狀態(tài)下，將探頭垂直的放在被測(cè)試件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次，測(cè)完第二次按住探頭不動(dòng)按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準(zhǔn)。如果沒發(fā)出兩聲蜂鳴說明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。

(2) 兩點(diǎn)校準(zhǔn)

在測(cè)量過程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別測(cè)量值偏差較大可以通過兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。

校準(zhǔn)方法：把一個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不一致，可以通過"▲"、"▼"鍵進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常

注意：兩點(diǎn)校準(zhǔn)時(shí)選用的被測(cè)試件厚度不要與系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)的五個(gè)樣片值接近，否則操作無效。

(3) 系統(tǒng)校準(zhǔn)

儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn)，為保證度也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。

系統(tǒng)校準(zhǔn)過程：

在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開"ON/OFF"鍵然后放開"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。

本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)后首先顯示"鐵基"界面，此時(shí)要把探頭垂直的放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入*個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的*個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和真實(shí)值不符，可以通過"▲▼"鍵來進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲″或"▼"鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)*個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次無誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量兩次后仍無兩聲蜂鳴，說明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。

    當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕顯示"0000''，進(jìn)入開機(jī)界面如圖A，儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。

注意：這五個(gè)樣片可以使用儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用

已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間應(yīng)該有一定的差值。系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)所選用的鐵基必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。

如果由于現(xiàn)場(chǎng)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾或者操作不當(dāng)造成系統(tǒng)紊亂時(shí)，可以通過系統(tǒng)初始化設(shè)置進(jìn)行系統(tǒng)恢復(fù)。

系統(tǒng)初始化設(shè)置：

    在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，同時(shí)按住“▲▼”鍵不動(dòng)，然后按一下"ON/OFF"鍵，直到屏幕顯示“OK”。松開“▲▼”鍵，初始化設(shè)置即可完成。此時(shí)儀器顯示“鐵基”，儀器進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)狀態(tài)，按照系統(tǒng)校準(zhǔn)的方法，校準(zhǔn)完成后即可正常測(cè)量。

    3.在測(cè)量狀態(tài)下存儲(chǔ)

在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為測(cè)量值，如需存儲(chǔ)按動(dòng)儀器上面的“ENTER”鍵，存儲(chǔ)地址自動(dòng)加1。例如當(dāng)前地址為0004，測(cè)量厚度值為1054um，存儲(chǔ)后地址變?yōu)?/span>0005，顯示界面如圖示。

屏顯結(jié)果只能被存儲(chǔ)一次，如需另外存儲(chǔ)可重新測(cè)量。如果要從初始地址重新開始存儲(chǔ)可以在存儲(chǔ)讀出菜單下長按"ENTER"鍵，儲(chǔ)存序列號(hào)就會(huì)回歸至初始地址0001，即可開始重新儲(chǔ)存。