MHY-14351 .少子壽命測試儀
- 公司名稱 北京美華儀科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 MHY-14351
- 產(chǎn)地 北京美華儀科技有限公司
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2016/5/20 14:17:11
- 訪問次數(shù) 582
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.少子壽命測試儀 型號:MHY-14351
MHY-14351.少子壽命測試儀 是參考美 A.S.T.M 標準而的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載子壽命測量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之。本儀器靈敏度較,配備有紅外光源,可測量包括集成電路硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
根據(jù)際通用方法頻光電導(dǎo)衰退法的原理,由穩(wěn)壓電源、頻源、檢波放大器,制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五份組成。采用印刷電路和頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
術(shù) 標 :
測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm
可測單晶少子壽命范圍 5μS~7000μS
配備光源類型 波長:1.09μm;余輝<1 μS;
閃光頻率為:20~30次/秒;
閃光頻率為:20~30次/秒;
頻振蕩源 用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
前置放大器 放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz
儀器測量重復(fù)誤差 <±20%
測量方式 采用對標準曲線讀數(shù)方式
儀器消耗率 <25W
儀器作條件 溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
可測單晶尺寸 斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
配用示波器 頻寬0—20MHz;
電壓靈敏:10mV/cm;